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利用对向靶直流溅射法制备的p型硅/本征硅/n型纳米晶FeSi?异质结的光伏特性与串联电阻
摘要: 通过采用相对靶直流溅射法(压力为1.33×10?1 Pa)制备了p型硅/本征硅/n型纳米晶二硅化铁异质结,并研究了其光伏特性。该器件表现出较大的漏电流和较低的能量转换效率(0.62%)。运用Nicollian-Brews方法测得零偏压下的串联电阻值:2 MHz时为7.40 Ω,50 kHz时为7.57 Ω,与Norde方法估算结果一致。采用Hill-Coleman方法测得界面态密度:50 kHz时为3.15×101? cm?2 eV?1,2 MHz时为8.93×1013 cm?2 eV?1。结果表明结界面存在串联电阻和界面态密度,这可能是导致该异质结光伏性能劣化的潜在原因。
关键词: 异质结、面对面直流磁控溅射、纳米晶二硅化铁、串联电阻、界面态密度
更新于2025-11-14 17:28:48