二维量子点周期晶格中的带状电子输运：实际尺寸分布的影响

摘要： 近年来，纳米晶体薄膜中的电子迁移率一直是个颇具争议的话题。过去已有理论和实验研究表明，载流子传输既存在跳跃机制，也呈现出能带特征。分析传输结果时需重点考虑一个关键因素：随着结构有序度的逐步提升（这种有序结构更有利于能带传输），相关研究也在持续深入。本研究提出了一个高效模型，用于计算考虑实际量子点尺寸分布时二维量子点阵列中与温度相关的能带电子迁移率。通过与实验结果对比来估算这些尺寸分布，所得数据与样品实测值高度吻合。