掺铟碲锌镉探测器的时间脉冲X射线响应

摘要： 采用超快脉冲X射线源评估了室温下碲锌镉（CZT）晶体的时间响应特性?；诙嘞葳逍вΥ游⒐鄄忝娼⒘薈ZT单晶中载流子弛豫动力学模型，研究了辐照通量与偏置电压对瞬态电流幅值及半高宽（FWHM）的影响。结果表明该时间响应过程受缺陷能级占据分数调控，在高达2.78×10?光子·毫米?2·秒?1的强脉冲X射线辐照下可实现快速光电流响应。同时发现高偏置电压通过抑制结构缺陷的载流子俘获作用增强退陷阱效应，从而改善CZT探测器的时间响应性能。