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关于由ENZ和DNZ介质构成芯层或涂层的圆柱体对平面波的散射
摘要: 研究了由介电常数近零(ENZ)和双近零(DNZ)介质构成包层或芯层的圆柱体,在垂直入射平面波作用下各场分量的相位分布及散射宽度特性。研究发现:对于小半径和大半径的裸ENZ/DNZ圆柱体,TE和TM偏振态下轴向分量通常具有均匀相位;而方位角分量仅在大直径圆柱体中呈现缓慢变化的相位。当ENZ/DNZ介质作为芯层或包层时,相位均匀性会降低。总体而言,DNZ介质比ENZ介质具有更平缓的相位变化,且TE偏振的相位均匀性优于TM偏振。散射宽度方面,DNZ包覆介质圆柱体最小,而介质包覆ENZ/DNZ圆柱体最大。本研究可为器件设计中近零折射率介质厚度选择提供指导——针对本文研究的三种构型中特定电场/磁场分量的相位均匀性要求,不同构型需要采用差异化的ENZ/DNZ介质厚度方案。
关键词: 零折射率介质,近零介电常数,双近零
更新于2025-09-09 09:28:46