分析量子信息技术元件基础质量的方法

摘要： 本文探讨了量子信息技术元件基础质量的分析方法。基于量子操作形式体系（算子求和法与Choi-Jamiolkowski同构），阐述了考虑量子噪声的量子操作模拟方法。报道了在考虑振幅弛豫、相位弛豫及退极化噪声情况下，对部分单比特与双比特量子变换的模拟结果。研究了基于根方法和最大似然法的量子态层析技术，描述了通过测量结果定量评估来保证量子层析精度的方法。在超导量子处理器（IBM）上实现了单比特变换的层析实验。本研究的实践目标是提升量子信息技术的高质量与高效率，所得成果可用于改进量子计算机的逻辑门质量，并调试量子密码学问题中量子态控制的流程。