Cu_1?xFe_xO纳米粉体的合成、形貌及光学与电学性能

摘要： 通过简单的低温溶胶-凝胶法合成了系列Cu1?xFexO（x = 0、0.027、0.055、0.097和0.125）纯相及铁掺杂氧化铜纳米颗粒。采用场发射扫描电子显微镜（FESEM）、能量色散X射线光谱（EDX）、漫反射光谱（DRS）、傅里叶变换红外光谱（FTIR）、霍尔效应测试仪及电流-电压（I-V）特性等多种技术对样品进行表征。FESEM分析显示随着CuO中铁浓度增加，形成盘状结构且晶粒尺寸增大。EDX证实铁已掺入CuO晶格。纯相与铁掺杂CuO样品的FTIR结果确认了单斜晶系CuO的形成。通过漫反射光谱估算的光学带隙显示，铁取代导致带隙值增大。霍尔测量表明所有样品均呈现p型主导导电性，且载流子密度随铁掺杂量增加而降低。纯相与铁掺杂CuO纳米颗粒的I-V特性展现出肖特基二极管的整流行为。