标题
- 标题
- 摘要
- 关键词
- 实验方案
- 产品
中文(中国)
▾
-
[2018年国际电磁学先进应用会议(ICEAA)- 卡塔赫纳德印第亚斯(2018.9.10-2018.9.14)] 2018年国际电磁学先进应用会议(ICEAA)- 由单元误差引起的低副瓣圆极化平面阵列的天线方向图效应
摘要: 相控阵天线单元的随机幅度和相位误差会导致副瓣电平升高。基于误差统计预测副瓣电平的公式已广为人知。这些相同的随机误差还会引起圆极化阵列轴比误差。本文提出了一些新的表达式,用于描述轴比随随机误差变化的关系。
关键词: 天线阵列、轴比、平面阵列、圆极化、阵列误差、交叉偶极子
更新于2025-09-23 15:22:29