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[2019年IEEE第四届全球光电子会议(OGC) - 中国深圳(2019.9.3-2019.9.6)] 2019年IEEE第四届全球光电子会议(OGC) - 基于低频噪声测量的980nm砷化镓激光二极管质量评估
摘要: 低频噪声一直是表征材料和电气器件性能与质量的快速无损工具。本文介绍了一种针对980纳米砷化镓基半导体激光二极管的可靠性无损预测方法。通过对正向偏压下的噪声特性和输运特性进行测量分析,结果表明激光二极管质量与低频噪声的特征参数(如频率指数、噪声强度和幅值)存在密切关联。
关键词: 低频噪声、频率指数、正向偏压、激光二极管、砷化镓衬底
更新于2025-09-16 10:30:52