利用同步辐射X射线衍射研究同构LiNbO?和LiTaO?铁电体的材料结构物理

摘要： 通过对同步辐射X射线粉末衍射数据结合Rietveld法和最大熵法进行分析，研究了化学计量比LiNbO3和LiTaO3铁电体的电子电荷密度。揭示了同构结构中Nb(Ta)-O键长、Nb(Ta)-O键上电子电荷密度与相变温度TC之间的明确关系。Nb(Ta)-O键合对提升TC具有重要作用。LiNbO3的TC高于LiTaO3归因于其Nb-O氧八面体存在更大的晶格畸变。论文还讨论了通过铁电结构晶格畸变程度估算LiNbO3族晶体TC的有效性。