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首页测试和测量光谱仪 4200-SCS热载体系统

4200-SCS热载体系统光谱仪

4200-SCS热载体系统

分类：光谱仪

厂家： Keithley Instruments Inc

产地：美国

型号： 4200-SCS Hot Carrier System

更新时间： 2025-10-27T05:28:56.000Z

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高精度仪器半导体测试晶体管退化寿命预测热载流子测试

简介：

Keithley 4200-SCS Hot Carrier System是一款用于测试MOS晶体管热载流子退化的设备，能够在晶圆生产后立即提供准确的退化测试结果。

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概述

Keithley 4200-SCS Hot Carrier System是一款用于测试MOS晶体管热载流子退化的设备，能够在晶圆生产后立即提供准确的退化测试结果。

参数

漏电流 / Drain Current (Idoff) : 测量晶体管处于关断状态时的漏电流
阈值电压 / Threshold Voltage (Vg(Id)) : 在指定漏电流下的阈值电压
跨导 / Transconductance (Gm(Id)) : 在指定漏电流下的跨导
外推阈值电压 / Extrapolated Threshold Voltage (Vtext) : 外推的阈值电压
最大跨导 / Maximum Transconductance (Gmext) : 最大跨导
基板电流 / Substrate Current (Isub) : 基板电流
基板斜率 / Subthreshold Slope (SubSlp) : 基板斜率
电流噪声 / Current Noise : ≤0.001%
电压范围 / Voltage Range : 0.1V至200V
电流范围 / Current Range : 1fA至1A
功率范围 / Power Range : 2W至20W
支持的晶体管类型 / Supported Transistor Types : N型和P型晶体管
支持的参数数量 / Supported Parameters : 最多10个参数/DUT
支持的并行晶体管数量 / Supported Parallel Transistors : 多个晶体管并行测试
兼容标准 / Compliance Standards : JESD28和JESD60标准
软件支持 / Software Support : HCI Stress Test软件和HCI Lifetime Analysis软件

应用

1. 测试MOS晶体管的热载流子退化 2. 进行晶圆级别的快速反馈测试 3. 测试封装晶体管的寿命预测

特征

1. 高精度、低噪声仪器 2. 支持多晶体管并行测试 3. 符合行业标准 4. 提供实时退化图表 5. 支持用户定义的失败和退出参数 6. 提供Excel表格的寿命分析工具

图片集

4200-SCS Hot Carrier System图1

4200-SCS Hot Carrier System图2

4200-SCS Hot Carrier System图3

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该产品已被81篇SCI论文引用

基于平台30万篇光学领域SCI论文分析

高性能有机可渗透基极晶体管的缩放研究
缩放注入有机可渗透基极晶体管接触电阻渡越频率

有机渗透基晶体管（OPBTs）展现出高速、柔性电子器件的应用潜力。本文探讨了OPBTs的缩放定律，证明通过减小有效器件面积可提升其性能。与当前最先进的有机场效应晶体管（OFETs）相比，优化后的OPBTs具有更高的跨导频率提升潜力。OPBTs不仅无需复杂结构技术即可实现更高跨导值，且对寄生接触电阻的敏感性更低?；诙的Ｐ头治霰砻鳎合嘟嫌贠FETs仅沿源极边缘小区域注入电流的特性，OPBTs通过发射极整个电极面的均匀电流注入实现了更低的接触电阻。
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采用低温溶液法加工聚酰亚胺栅介质的柔性稳定有机场效应晶体管
有机场效应晶体管溶液加工聚酰亚胺低温操作稳定性

聚酰亚胺（PI）因其卓越的热稳定性、耐化学性和机械柔韧性而被广泛用作栅极绝缘层。然而，PI栅极绝缘层的高加工温度和高表面能阻碍了低成本制造柔性可靠电子器件的实现。本研究成功展示了一种采用全亚胺化可溶性PI栅极绝缘层的低温溶液法有机场效应晶体管（OFET）。通过研究退火温度对介电性能和电学特性的影响，证实了可溶性PI栅极绝缘层的低温加工可行性。将6,13-双(三异丙基甲硅烷基乙炔基)并五苯与聚苯乙烯共混后，在保持高器件性能的同时显著提升了OFET的可靠性。由此制备的OFET展现出优异的柔韧性，可与超薄聚对二甲苯衬底集成而不影响器件性能。该工作为开发低成本制造的柔性可靠电子器件提供了实现路径。
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一步法制备生物相容性配位复合物薄膜于多种基底上实现三元柔性存储器
生物相容性阻变存储器三值存储器柔性

近年来，由于信息需求不断增长，阻变随机存储器（RRAM）得到了广泛研究。然而，其柔性器件仍面临挑战，因为所涉及活性材料需具备无毒、无污染、耐形变、可生物降解等特性，同时能粘附于多种柔性基底。本文采用单宁酸（TA）与铁离子（Fe(III)）配位复合物作为三明治结构（Al/活性层/基底）器件的活性层以实现存储性能。通过一步自组装溶液法合成了无毒、生物相容的TA-Fe(III)配位复合物。该复合物存储器件的保持时间达15000秒，成品率达53%。此外，TA-Fe(III)配位复合物能在聚对苯二甲酸乙二醇酯（PET）、聚酰亚胺（PI）、打印纸和树叶等多种柔性基底上形成优质薄膜，并呈现稳定的三元存储行为。该器件可通过浸泡醋溶液实现降解。本研究将拓展有机配位复合物在多样化基底柔性存储器件中的应用。
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光电信息科学与工程实验方案
1. 实验设计与方法选择：本研究通过制备不同器件面积的有机光电晶体管（OPBTs）来探究尺寸缩放规律，并采用二维数值模型解释其接触电阻降低的原因。 2. 样本选择与数据来源：OPBTs在定制真空系统中通过热蒸发法制备，器件结构通过掩模版在玻璃基板上形成。 3. 实验设备与材料清单：定制真空系统（EvoVac，Angstrom Engineering）、半导体参数分析仪（4200-SCS，Keithley），以及铝、铬、C60、Spiro-TTB和W2(hpp)4等材料。 4. 实验流程与操作步骤：按特定顺序沉积材料层并退火完成器件制备，通过不同绝缘层的掩模版定义有源区。 5. 数据分析方法：测量并分析晶体管性能参数以理解尺寸缩放规律，利用数值模型模拟并解释观测现象。
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材料科学与工程实验方案
1. 实验设计与方法选择：本研究采用一步自组装法在不同基底上合成TA-Fe(III)配位复合薄膜用于存储器件制备。理论模型包含电荷捕获和导电细丝机制来解释三值存储行为。 2. 样品选择与数据来源：基底包括ITO玻璃、PET、PI、打印纸和柚子叶。样品经过特定处理（如ITO用piranha溶液）并在pH=8.0条件下进行10-30次薄膜生长循环。 3. 实验设备与材料清单：材料含六水合三氯化铁、单宁酸、氢氧化钠、超纯水、乙醇、丙酮、PET、PI、纸张、叶片。设备包括原子力显微镜(AFM)、扫描电子显微镜(SEM)、X射线光电子能谱(XPS)、紫外-可见分光光度计、Keithley 4200-SCS电学测试仪、热蒸发镀膜机（用于铝沉积）。 4. 实验流程与操作步骤：清洁基底，必要时用piranha溶液处理，在pH=8.0的TA与Fe(III)混合溶液中浸渍生长薄膜，通过循环次数控制厚度，真空干燥后蒸镀铝电极，测量薄膜特性与器件性能。 5. 数据分析方法：使用AFM分析表面粗糙度，SEM进行元素分布成像，XPS作化学成分分析，UV-Vis获取光谱数据，Keithley测量I-V曲线，统计分析成品率与阈值电压。
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高分子材料与工程实验方案
1. 实验设计与方法选择：研究采用底部高k值PVA与顶部低k值交联PVP（CL-PVP）的双层介电结构，以结合高电容与低表面极性特性。制备方法包括旋涂、退火和热蒸镀工艺，表征技术涵盖FTIR红外光谱、接触角测量、原子力显微镜（AFM）、扫描电子显微镜（SEM）、电容-电压（C-V）、电容-频率（C-f）及电流密度-电压（J-V）测试。 2. 样品选择与数据来源：使用材料包括P3HT、PVA、PVP、HDA、TEA、PGMEA、甲苯和去离子水，基底为ITO导电玻璃。样品制备为单层/双层介电薄膜及有机场效应晶体管（OFET）器件。 3. 实验设备与材料清单：设备包含旋涂机、退火炉、热蒸镀仪、FTIR光谱仪、接触角测量系统、SEM、AFM、阻抗分析仪及半导体参数分析仪。材料来源明确（如P3HT来自Rieke Metals，PVA/PVP/HDA/TEA/PGMEA购自Aldrich）。 4. 实验流程与操作步骤：依次进行ITO/玻璃基底清洗、PVA层旋涂与退火、CL-PVP层旋涂与交联退火、P3HT层旋涂与退火、Au电极热蒸镀，最终完成介电性能与器件性能表征。 5. 数据分析方法：通过渐近沟道近似法从转移曲线提取迁移率、阈值电压、开关比及亚阈值摆幅；基于亚阈值摆幅计算陷阱态密度；通过AFM和接触角测量分析表面特性。
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厂家介绍

For more than 70 years, Keithley, a Tektronix company, has been designing, manufacturing and marketing advanced electrical test instruments and systems for the specialized needs of electronics manufacturers in high performance production testing, process monitoring, product development and research. Keithley has approximately 500 products that are used to source, measure, connect, control or communicate direct current (DC) or pulsed electrical signals. Keithley customers include scientists and engineers in the worldwide electronics industry involved with 3D sensing, advance materials research, semiconductor device development and fabrication, and the production of end products such as portable wireless devices.

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