在电子制造与研发领域，如何精准分析材料的分子结构并检测微小缺陷一直是行业痛点。拉曼光谱仪的作用正是解决这一难题的核心技术——它通过激光与物质分子振动能级的相互作用，提供非接触、无损的化学成分"指纹图谱"。从半导体晶圆的质量控制到新型光纤元件的材质验证，该技术已成为现代电子工业不可或缺的分析工具。本文将深入解析拉曼光谱仪在电子电工行业的具体应用场景，并分享提升
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XGT-9000 X射线分析显微镜
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概述
参数
- 测量原理 / Measurement Principle : Energy dispersive X-ray fluorescence
- X 射线束直径 / X-Ray Beam Diameter : Custom
- 腔体尺寸 / Chamber Size (Depth) : 500mm
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厂家介绍
HORIBA于1945年在日本成立，当时名为HORIBA Radio Laboratory，现已发展成为全球运营和分销的研发中心。他们通过创新的测量和分析技术，不断满足并超越全球客户的期望。目前，堀场集团提供广泛的设备和系统，应用范围从汽车研发、过程和环境监测、体外医疗诊断、半导体制造和计量，到广泛的科学和质量控制测量。一贯卓越的品质和可靠性使HORIBA品牌赢得了广泛的信任。
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名称
分类
制造商
参数
描述
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Tecnai G2 200kV TEM
显微镜
Thermo Fisher Scientific
加速电压: 80-200kV 场发射枪电压: 3800V CCD相机分辨率: 4k×4k
FEI Tecnai G2 200kV TEM是一款高分辨率场发射透射电子显微镜，适用于冷冻单颗粒和半冷冻细胞或切片的电子显微镜和电子断层扫描。
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Tecnai? G2 F20
显微镜
Thermo Fisher Scientific
电子源: 灵活高电压(20,40,80,120,160,200kV及中间值) 肖特基场发射器最大束流: >100nA 高探针电流: 0.5nA或更高(1nm探针)
Tecnai? G2 F20是一款高度先进的200kV扫描透射电子显微镜（S/TEM），具有无与伦比的任务导向用户界面，运行于Windows? XP操作系统下，提供高性能、多功能性、高生产率和易用性。
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Talos F200X G2 电子显微镜
显微镜
Thermo Fisher Scientific
亮度: 1.8/2.4×10^9A/cm^2 sr@200kV Super-X EDS系统: 4 SDD symmetric design, windowless, shutter-protected EELS分辨率: 0.8eV (X-FEG) / 0.3eV (X-CFEG)
Talos F200X G2扫描透射电子显微镜（S/TEM）提供了多维度纳米材料的精确定量表征，适用于学术、政府和工业研究环境中的高级研究和分析。
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