在电子制造与研发领域,如何精准分析材料的分子结构并检测微小缺陷一直是行业痛点。拉曼光谱仪的作用正是解决这一难题的核心技术——它通过激光与物质分子振动能级的相互作用,提供非接触、无损的化学成分"指纹图谱"。从半导体晶圆的质量控制到新型光纤元件的材质验证,该技术已成为现代电子工业不可或缺的分析工具。本文将深入解析拉曼光谱仪在电子电工行业的具体应用场景,并分享提升
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概述
参数
- 棱镜类型 / Prism Type : Equilateral Dispersing Prisms
- 棱镜形状 / Prism Shape : Triangular, Equilateral
- 基底/材料 / Substrate/Material : N-SF11
- 镀膜波长 / Coating Wavelength : 420 nm to 2.3 μm
- 表面质量 / Surface Quality : 40-20 scratch-dig
- RoHS / RoHs : Yes
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光谱对比光学相干断层扫描血管造影术实现单次扫描血管成像
光学相干断层血管成像依赖于运动产生对比度,每个扫描点至少需要两次数据采集。我们提出一种称为可见光光谱对比光学相干断层血管成像的方法,该方法利用血液的光谱特征,通过单次扫描和内源性对比实现血管成像。我们展示了该方法的分子敏感性,能够区分淋巴管、血液和组织。
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具有增强波长调谐范围的蓝光激光二极管系统
外腔系统 可调谐激光器 自注入锁定
本文提出了一种基于棱镜的自注入锁定无缝调谐蓝光InGaN/GaN激光二极管复合腔系统。我们对该外腔二极管激光器(ECDL)系统在两种不同光反馈功率下进行了严格分析:当注入电流为130 mA时,高反射系统(HRS)展现出创纪录的~12.11 nm宽带调谐范围(边模抑制比SMSR≥15 dB,最高达40 dB)、≤110 pm的线宽及约3 mW的工作功率;而低反射系统(LRS)在相同注入电流下实现8 nm调谐范围(线宽≤88 pm,SMSR≥13 dB,最高35 dB)及14.5 mW可用功率。两个系统均呈现光功率与调谐能力成反比的关系——LRS配置最高达180 mW时仍保持4.5 nm调谐能力。两套系统在高注入电流和温度条件下均表现出优异稳定性。这种坚固、简易且紧凑的系统除可见光通信外,还可作为多种应用的关键光源。据我们所知,这是首个连续调谐自注入锁定激光系统的研究报告。
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光电信息科学与工程实验方案1
1. 实验设计与方法选择:本研究采用可见光光谱域光学相干断层扫描(SD-OCT)系统以利用血红蛋白的光谱特性。方法包括使用凯撒窗的短时傅里叶变换(STFT)获取光谱对比度,以及逆强度和SC-OCTA处理的算法。 2. 样本选择与数据来源:样本包括活体人类唇黏膜、含牛血的血管模型及新鲜处死的小鼠组织(大肠、网膜、心脏)。数据通过定制OCT系统采集。 3. 实验设备与材料清单:关键设备:超连续谱激光器(NKT Photonics SuperK Extreme EXW-6)、配备线阵相机的光谱仪(Basler spL4096-140km)、振镜(Thorlabs GVS002)、物镜(如Thorlabs LSM03-VIS)、棱镜(Thorlabs PS854、PS858)、光纤(如Thorlabs SM600)、偏振控制器(Thorlabs FPC562)、分束器(Thorlabs CM1-BS1)、位移台(Zaber X-XYZ-LSQ150B-K0060-SQ3)。材料:琼脂糖、聚苯乙烯微球、牛血、钨丝、FEP管。 4. 实验流程与操作步骤:OCT系统设置包含色散补偿与偏振控制。数据采集通过逐点扫描样本完成,参数包括45,000 A线/秒曝光率。处理步骤含STFT、色散校正、轴向校准及对SC-OCTA与逆强度图像应用中值滤波。 5. 数据分析方法:数据在MATLAB中处理,使用CPU和GPU进行傅里叶变换、信噪比计算、傅里叶环相关分析及统计检验(如双样本t检验)。光谱经归一化后分析反向散射特性。
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光电信息科学与工程实验方案2
1. 实验设计与方法选择:本研究采用基于棱镜的自注入锁定可调谐蓝光InGaN/GaN激光二极管复合腔系统。分析了高反射系统(HRS)和低反射系统(LRS)两种构型在不同光反馈功率下的表现。 2. 样本选择与数据来源:使用发射波长约450 nm的高功率TO封装蓝光法布里-珀罗(FP)激光二极管。系统在不同注入电流、温度及外腔长度条件下进行评估。 3. 实验设备与材料清单:包括薄膜分束器、非球面透镜、等边色散棱镜、高反镜、平移调整架、位移台、光纤、光谱分析仪及温控底座。 4. 实验流程与操作步骤:激光束经准直后通过棱镜射向反射镜,反射光反馈注入激光器有源区。调节外腔长度实现自注入锁定与波长调谐,将可用光功率耦合进光纤进行分析。 5. 数据分析方法:从波长调谐范围、光学线宽、边模抑制比(SMSR)及可用功率等指标评估性能,并测试系统随时间的稳定性。
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