在工业自动化和精密测量领域,激光位移传感器已成为不可或缺的电工工具。无论是检测生产线上的微小偏差,还是监控配电系统中设备的振动幅度,其高精度和非接触式测量的优势显著提升了效率与安全性。然而,面对市场上琳琅满目的型号(如基于激光二极管或光纤元件的产品),许多工程师在选型和应用中仍存在困惑。本文将深入解析激光位移传感器的工作原理、核心参数及典型场景,助您全面掌握
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专业选型
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正规认证
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品质保障
严格把控产品质量,呈现理想的光电产品,确保每一件产品都能满足您的专业需求。
概述
参数
- 反射镜类型 / Mirror Type : Shortpass Mirror, Dichroic Mirror
- 反射镜形状 / Mirror Shape : Rectangular
- 基底/材料 / Substrate/Material : UV Fused Silica
- 反射镜厚度 / Mirror Thickness : 1.0 mm (0.04 Inch)
- 表面质量 / Surface Quality : 40-20 scratch-dig
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样品温度对钼钨合金激光诱导击穿光谱的影响
激光诱导击穿光谱 等离子体发射 钼钨合金 样品温度 激光诱导击穿光谱
评估了激光诱导击穿光谱(LIBS)在高温条件下对核材料进行原位元素分析的分析能力。选用经认证的钼钨合金(钼70 wt.%和钨30 wt.%)作为托卡马克装置中面向等离子体部件(PFCs)沉积高Z杂质的替代材料。采用纳秒红外(1064 nm)激光脉冲研究了样品温度(Ts)对激光诱导钼钨等离子体光学发射的影响。LIBS实验在20至410℃的宽温度范围内进行。针对不同温度条件下的烧蚀坑进行了表面形貌和深度剖析。研究发现信号发射强度与Ts存在显著相关性,Ts升高会导致谱线发射增强。在激光烧蚀过程中,烧蚀速率、等离子体温度和电子密度随Ts显著增加。此外,合金表面一旦发生氧化,其反射率会急剧下降。表面反射率的降低使更多激光能量耦合到靶材,从而产生更强的LIBS信号。这些结果将有助于提升托卡马克装置中高Z杂质的LIBS定量分析水平。
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精密仪器实验方案
1. 实验设计与方法选择:采用调Q Nd:YAG激光器作为烧蚀源,在钼钨合金样品上产生等离子体,并对等离子体的光谱发射进行检测与分析。 2. 样品选择与数据来源:使用经认证的钼钨合金(Mo 70 wt.%和W 30 wt.%)作为样品,将其加热至20至410℃的不同温度。 3. 实验设备与材料清单:Nd:YAG激光器(Lapa-80,Beamtech)、二向色镜(DMSP950,Thorlabs;DMLP 567,Thorlabs)、激光功率计(842-PE,Newport)、配备ICCD的阶梯光栅光谱仪(iStar DH334T,Andor)、扫描电子显微镜(Quanta 450,FEI)、白光干涉仪(New View 6 K,Zygo Corporation)。 4. 实验步骤与操作流程:将激光聚焦于样品表面,采集发射光谱,改变样品温度并研究其对等离子体发射的影响。 5. 数据分析方法:通过分析谱线强度确定等离子体温度和电子密度,利用扫描电子显微镜和白光干涉仪观察表面形貌及坑洞轮廓。
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