在现代光电系统和电子电工设备中,光学元件名称的准确识别与理解是确保系统设计、维护及优化的基石。无论是构建精密的光纤通信网络,还是调试复杂的激光加工设备,工程师和技术人员若对各类光纤元件、透镜、滤光片等关键部件的命名规则与功能特性模糊不清,极易导致选型错误、性能下降甚至系统故障。随着半导体器件与光电技术的深度融合,掌握规范的光学元件名称不仅关乎技术沟通的效率,
UI-1540SE-M-GL
分类: 科学和工业相机
厂家: IDS Imaging Development Systems GmbH
产地: 德国
型号: UI-1540SE-M-GL
更新时间: 2024-08-27T22:08:55.000Z
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高分辨率 CMOS 工业相机 机器视觉 IDS Imaging
USB 2.0, CMOS, 25 fps, 1280 x 1024, 1.31 MPix, 1/2", ON Semiconductor, Rolling Shutter
顶刊高频之选
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专业选型
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正规认证
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品质保障
严格把控产品质量,呈现理想的光电产品,确保每一件产品都能满足您的专业需求。
概述
参数
- 应用 / Application : Quality control, Document scanning, 3D imaging, Tracking, Machine vision, Surveillance systems, Traffic surveillance (ITS)
- 数据接口 / Data Interface : USB 2.0
- 相机类型 / Camera Type : Linear Cameras, Line Scan Cameras
- 扫描模式 / Scan Mode : Prograssive scan
- 传感器类型 / Sensor Type : CMOS
- 色度 / Chrome : Monochrome, B/W
- 透镜支架 / Lens Mount : C-Mount
- 传感器制造商 / Sensor Manufacturer : ON Semiconductor
- 传感器型号 / Sensor Model Number : MT9M001STM
- 摄像头尺寸 / Camera Head Size : 6.656 x 5.325 mm (Optical Size)
应用
1. 工业自动化 2. 质量控制 3. 科研实验 4. 机器视觉
特征
1. 高分辨率 2. 低功耗 3. 多种子采样模式 4. 广泛的环境适应性
详述
规格书
AI 智能分析
该产品已被5篇SCI论文引用
基于平台30万篇光学领域SCI论文分析
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利用等离子体电镀法制备的银纳米粒子光栅芯片检测过氧化氢
银纳米粒子 等离子体镀层 光学传感器 过氧化氢检测 衍射光栅
提出了一种利用银纳米粒子(AgNPs)光栅结构检测过氧化氢(H2O2)的方法?;诘壤胱犹宓缍萍际?,通过绿色激光束的干涉曝光,在镀金纳米粒子(AuNPs)的玻璃板上沉积周期性线状AgNPs结构。该AgNPs光栅芯片能使入射光发生衍射,且衍射效率与AgNPs含量相关。当芯片滴加H2O2溶液后,由于AgNPs的自催化分解作用,衍射强度会下降。研究构建了衍射强度变化的便携式测量系统,只需将H2O2溶液滴加在基底上,即可在2分钟内完成6.7-668 μmol/L浓度范围内的H2O2检测。
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[2018年IEEE国际成像系统与技术会议(IST)-克拉科夫(2018.10.16-2018.10.18)] 2018年IEEE国际成像系统与技术会议(IST)-阴影成像系统中的粒子测量体积与光强
阴影成像 光学 液态水含量 气象学 机器视觉
正在寻求一种确定颗粒测量所需测量体积仪器的方法。研究表明,测量体积取决于照明光的光学均匀性与相机系统的组合效果。通过混合照明条件与位置的研究结果显示:若已知真实尺寸和背景亮度,采用双指数项拟合方法可平均以4%的精度确定测量体积。使用低倍率镜头会增大测量体积,因为其视场角和景深都会增加。但更大的视场角同时需要更多光照,并对其他光学误差更敏感。
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激光金属沉积中用于高度监测的同轴激光三角测量法
增材制造 光学监测 定向能量沉积 激光三角测量
高度参数控制在激光金属沉积(LMD)工艺中起着至关重要的作用。沉积高度增量与工艺生长速率不匹配会导致几何精度偏差及碰撞问题。本文提出一种基于三角测量的在线监测方法,用于由同轴沉积头、拟人机器人和光纤激光器组成的LMD系统高度监测。测量装置集成于沉积头内部,通过同轴喷嘴发射探测激光束,并根据离焦距离将光斑聚焦于熔池不同位置。通过同轴相机采集探测光斑位置并转换为相对高度值。该系统在AISI 316L不锈钢沉积过程中实现了数毫米范围内的距离测量,其不依赖沉积方向的高度监测方法具有高度灵活性。
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光电信息科学与工程实验方案
1. 实验设计与方法选择:本研究采用等离子体镀膜法结合干涉激光曝光,在金纳米颗粒修饰的玻璃板上制备银纳米颗粒光栅结构用于过氧化氢检测。 2. 样本选择与数据来源:通过磁控溅射金薄膜并在玻璃板上退火制备金纳米颗?;祝寐躺す馐母缮嫫毓庾爸霉菇ㄒ擅卓帕9庹そ峁?。 3. 实验设备与材料清单:包括绿色激光器(MSL-III-532,CNI)、电动直线平移台(HPS80-50X-M5,Sigma Koki)、机械快门(F573,Suruga Seiki)及便携式测量系统(含红色激光器CPS635R,Thorlabs和CCD相机UI-2410SE-M-GL,IDS)。 4. 实验流程与操作步骤:通过干涉激光曝光制备银纳米颗粒光栅结构,施加过氧化氢后通过测量衍射强度变化实现检测。 5. 数据分析方法:采用RCWA模拟分析衍射强度变化,使用CCD相机测量时间序列强度变化。
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精密仪器实验方案
1. 实验设计与方法选择:本研究采用阴影成像系统,通过不同相机与镜头配置测量62.5微米圆点在不同光照条件下的检测范围。方法包括使用位移台沿z轴移动测试物体并逐级拍摄图像,随后通过边缘检测处理图像,根据背景光强度确定测量范围。 2. 样本选择与数据来源:使用固定直径为62.5微米、间距125微米的圆点网格玻璃测试物。数据采集自不同照明场景(包括居中光、偏移光和漫射光)控制实验中捕获的图像。 3. 实验设备与材料清单:包含相机(uEye UI-3370CP-NIR和uEye UI-2250SE-M-GL)、镜头(Opto Engineering TC4M004-C和Edmund Optics 110mm WD CompactTL)、测试物(Edmund Optics圆点网格玻璃部件号58509)、照明(带准直镜的Mightex 455nm LED)、扩散片、位移台及千分尺测微计。 4. 实验流程与操作步骤:将测试物置于相机与照明光源之间的位移台上,以1微米或5微米步进沿z轴移动,每步拍摄一张图像。通过高斯拉普拉斯边缘检测处理图像识别可检测圆点,并测量每个圆点位置的背景光强度。 5. 数据分析方法:通过建立各位置检测圆点的直方图,拟合双指数模型关联测量范围与背景光强度,计算平均偏差和信噪比(SNR)评估精度。
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机械电子工程实验方案
{"实验设计与方法选择": "该方法基于准共轴方式实施的光学三角测量技术,用于激光金属沉积系统中的原位高度监测。", "样品选择与数据来源": "采用AISI 316L不锈钢粉末在AISI 304不锈钢基板上进行沉积。", "实验设备与材料清单": ["光纤激光源:IPG YLS-3000", "沉积头:KUKA REIS MWO-I", "拟人机器人:ABB IRB 4600-45", "送粉器:GTV TWIN PF 2/2-MF", "探测激光源:THORLABS CPS532", "相机:IDS UI-6230RE-M-GL"], "实验流程与操作步骤": "探测激光束通过喷嘴共轴发射,聚焦于熔池,并通过共轴相机获取其位置。系统使用电动实验室千斤顶进行校准。", "数据分析方法": "采用PYTHON代码分析相机传感器上探测光斑的位置,以亚像素分辨率提取质心位置。"}
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我们还有2 个针对不同应用场景的完整实验方案,包括详细设备清单、连接示意图和数据处理方法。
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称呼
电话
单位名称
用途