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FPD510 光电探测器

FPD510

分类： 光电探测器

厂家： Menlo Systems

产地： 德国

型号： FPD510

更新时间： 2024-08-24T14:49:38.000Z

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简介：

High Sensitivity Fast PIN Photodetector

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概述

来自Menlo Systems的FPD510是波长范围为400至1650nm、上升时间为2ns、带宽调制带宽为DC至200MHz、有效区域直径为0.25mm的光学检测器。有关FPD510的更多详细信息，请联系我们。

参数

  • 应用 / Application : NIR & VIS Pulses Detection, Signal Detection, Heterodyne Laser Beat Signal Detection, Chopped Light Source Detection
  • 光电探测器类型 / Photodetector Type : PIN
  • 光电二极管材料 / Photodiode Material : Silicon, InGaAs
  • 上升时间 / Rise Time : 2 ns
  • 有效面积直径 / Active Area Diameter : 0.25 mm

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  • 基于飞秒光学频率梳的光谱干涉法实现绝对距离测量
    光谱干涉测量法 光学频率梳 绝对距离测量

    我们展示了一种基于飞秒光学频率梳光谱干涉测量的频率折叠效应绝对距离测量方法。通过带通滤波和傅里叶变换研究了传统复杂相位解包裹方法中相位噪声对测距精度的影响。为降低相位噪声影响，我们提出了无滤波差分包络相位解调方法，单点测量稳定性标准差达75纳米，验证了其鲁棒性。进一步扩展非模糊范围后，在70米长距离测量中实现了优于30微米的分辨率，相对精度达到3.1×10??。

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  • 精密仪器实验方案

    1. 实验设计与方法选择：本研究采用飞秒光学频率梳结合光谱干涉测量法，通过迈克尔逊干涉仪结构测量距离延迟。提出的PDSEH方法（希尔伯特变换信号包络相位解调）与传统的FT方法（带通滤波+傅里叶变换）进行相位解包裹对比。 2. 样本选择与数据来源：在中国计量科学研究院80米长光学隧道内开展测量，环境条件（温度、气压、湿度）受控。使用光谱分析仪采集数据。 3. 实验设备与材料清单：飞秒光源（Onefive Origami-15）、铷钟（SRS FS725）、光电探测器（Menlo Systems FPD510-F）、频率计数器（Agilent 53220A）、光谱分析仪（YOKOGAWA AQ6370D-20）、氦氖干涉仪（Agilent 5519B）、光纤分束器、环形器、准直器、耦合器、角锥棱镜。 4. 实验流程与操作步骤：飞秒激光经光纤迈克尔逊干涉仪分为参考臂和测量臂，干涉信号由光谱分析仪检测。分别在近场和远场进行小距离测量，并以5米为步进实施最长70米的长距离测量，每组测量重复10次以确保稳定性。 5. 数据分析方法：采用FT和PDSEH方法进行相位解包裹，通过最小二乘法（LSM）拟合相位数据。不确定度评估包含折射率、重复频率及相位解调的贡献分量。

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厂家介绍

Menlo Systems由H?nsch教授、Ronald Holzwarth博士、Michael Mei博士和Alex Cable于2001年创立，是著名的马克斯·普朗克量子光学研究所（Max-Planck-Institute for Quantum Optics）围绕光频梳技术（一种测量光频率的革命性简单技术）的副产品。这项发明被称为…。自70年代人们开始测量激光频率以来，精密电磁测量的较大进步……

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