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IPSDD1004 超辐射发光二极管
精品

IPSDD1004

分类: 超辐射发光二极管

厂家: InPhenix

产地: 美国

型号: IPSDD1004

更新时间: 2024-08-27T11:41:25.000Z

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高输出功率 工业计量 光纤传感器 宽光谱带宽 低光谱起伏

Super-Luminescent Light Emitting Diode Device

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概述

Inphenix的IPSDD1004是一款超辐射发光二极管,波长为1060至1080 nm,输出功率为10 MW,带宽(FWHM)为60 nm,工作电流为400至600 mA,正向电流为700 mA(最大电流)。有关IPSDD1004的更多详细信息,请联系我们。

参数

  • 光纤模式 / Fiber Mode : SMF/PMF/MMF
  • 应用 / Application : Broadband Light Source, Fiber Optic Sensor (FOS) System, Industrial Metrology Stem

应用

1. 宽带光源 2. 光纤传感器系统 3. 工业计量系统

特征

1. 宽光谱带宽 2. 非常低的光谱起伏 3. 在单模/偏振保持光纤中的高输出功率

详述

1. 宽光谱带宽 2. 非常低的光谱起伏 3. 在单模/偏振保持光纤中的高输出功率

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该产品已被2篇SCI论文引用

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  • 基于三芯光纤的用于测量方向性弯曲的纤维内马赫-曾德尔干涉仪
    马赫-曾德尔干涉仪 光纤传感器 弯曲方向 三芯光纤 弯曲灵敏度

    本研究提出了一种基于三芯光纤(TCF)马赫-曾德尔干涉仪(MZI)的高灵敏度定向弯曲传感器。该MZI弯曲传感器通过将一段TCF与两根具有纤芯偏移的单模光纤(SMF)熔接制备而成。由于TCF中纤芯的位置特性,对TCF基MZI施加弯曲会导致纤芯伸长或缩短,使该传感器适用于定向弯曲测量。为分析弯曲特性,研究了两类纤芯熔接位置不同的TCF基传感器(纤芯位于SMF间不同位置)。测量采用扫频光源技术,实验结果表明:在0°弯曲方向上,两类传感器的弯曲灵敏度分别为15.36 nm/m?1和3.11 nm/m?1;在180°弯曲方向上则分别为-20.48 nm/m?1和-5.29 nm/m?1。两类传感器的温度灵敏度分别为0.043 nm/°C和0.041 nm/°C。所提出的传感器具有结构紧凑、用途广泛、制备成本低廉的特点,在生物医学传感领域具有应用潜力。

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  • 一种采用偏心芯光纤设计的新型马赫-曾德尔干涉仪用于光学相干断层扫描
    马赫-曾德尔干涉仪 光学相干断层扫描 偏心芯光纤

    提出并演示了一种采用偏心芯光纤(ECF)设计的新型马赫-曾德尔干涉仪用于光学相干断层扫描(OCT)。该实现方案中,使用ECF替代商用单模光纤(SMF)作为其中一个干涉臂。由于偏心芯的偏移位置,该结构对方向性弯曲敏感,且能高精度调节两干涉臂的光程差(OPD)。通过计算和实验测量了ECF的双折射率,结果表明本文提出的ECF与SMF具有相似的偏振灵敏度。该结构可替代参考光延迟线形成全光纤无源器件。实验以反射镜作为样品分析系统的ECF弯曲响应,并采用四片重叠玻璃载玻片作为样品进行实验测量。

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实验方案推荐
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  • 光电信息科学与工程实验方案1

    1. 实验设计与方法选择:该研究设计了一个马赫-曾德尔干涉仪,使用三芯光纤熔接在具有纤芯偏移的单模光纤之间以测量定向弯曲。采用基于相位差和光程变化的理论模型。 2. 样本选择与数据来源:使用具有不同纤芯位置(纤芯1和纤芯2)的TCF熔接至SMF制备了两种传感器。TCF具有特定的中心轴距离和直径。 3. 实验设备与材料清单:设备包括熔接机(藤仓80S)、扫频光源(实验室自制,组件包括半导体光放大器IPSAD1304、扫描法布里-珀罗滤波器FFP-TF2、函数发生器AFG1000)、光功率计(安捷伦8153A)、光谱分析仪(横河AQ6370C)、偏振控制器、光纤耦合器、隔离器、钢板、千分尺螺杆和光纤夹持器。 4. 实验步骤与操作流程:通过将TCF熔接在具有纤芯偏移的SMF之间制备传感器。弯曲实验使用带有可旋转夹具和千分尺螺杆的装置,在0°、90°、180°和270°方向施加0至1 m?1的曲率。使用OSA测量透射光谱。 5. 数据分析方法:通过分析干涉极小值的波长偏移,利用线性拟合和相关系数确定弯曲和温度灵敏度。

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  • 光电信息科学与工程实验方案2

    1. 实验设计与方法选择:本研究采用全光纤马赫-曾德尔干涉仪,以偏心芯光纤(ECF)作为其中一臂,通过机械弯曲调节光程差(OPD)。理论模型包含弯曲诱导长度变化方程和双折射计算公式。 2. 样本选择与数据来源:样本包括用于分析弯曲响应的反射镜及四片重叠玻璃载玻片(用于断层扫描),数据源自干涉信号采集。 3. 实验设备与材料清单:包括定制扫频激光器、ECF、单模光纤(SMF)、环形器、耦合器、光电探测器、数字化仪、熔接机、光功率计、光源、微分筒螺旋测微器、光纤夹持器、金属板及夹具。 4. 实验流程与操作步骤:通过微分筒螺旋测微器机械装置弯曲ECF以施加曲率;测量并分析干涉信号。采用熔接技术实现ECF与SMF对准,利用萨格纳克环测量双折射。 5. 数据分析方法:通过干涉光谱分析条纹对比度;采用傅里叶变换进行深度剖析;根据波长偏移量推导双折射值。

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厂家介绍

Inphenix是一家总部位于加利福尼亚州利弗莫尔的私人控股公司,设计和制造有源光电元件和??椤N颐峭ü齀SO 9001:2008认证的工厂包括较先进的晶圆厂、具有完整封装能力的生产区和能够测试从芯片级到??榧恫返牟馐郧?。我们较先进的设计和制造技术确保符合Telcordia GR-486-CORE的要求。Inphenix从前端到后端的完整功能是我们为客户提供的关键优势。

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