在电子制造与研发领域,如何精准分析材料的分子结构并检测微小缺陷一直是行业痛点。拉曼光谱仪的作用正是解决这一难题的核心技术——它通过激光与物质分子振动能级的相互作用,提供非接触、无损的化学成分"指纹图谱"。从半导体晶圆的质量控制到新型光纤元件的材质验证,该技术已成为现代电子工业不可或缺的分析工具。本文将深入解析拉曼光谱仪在电子电工行业的具体应用场景,并分享提升
C30659 Series(系列)带混合前置放大器的硅(Si)或InGaAs雪崩光电二极管(APD)
分类: 光电二极管
产地: 美国
型号: C30659-900-R8AH | C30659-900-R5AH | C30659-1060(E) | C30659-1550(E) | C30659-900-R8AH | C30659-900-R5BH | C30659-1060-3AH | C30659-1060E-3AH | C30659-1060-R8BH | C30659-1060E-R8BH | C30659-1550-R2AH | C30659-1550E-R2AH | C30659-1550-R08BH | C30659-1550E-R08BH
更新时间: 2024-07-13T10:56:04.000Z
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低噪声 高可靠性 光电探测 高带宽 APD 前置放大器
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严格把控产品质量,呈现理想的光电产品,确保每一件产品都能满足您的专业需求。
概述
参数
- 光谱响应范围 / Spectral Response Range : Si APD: 400nm-1100nm, InGaAs APD: 1100nm-1700nm
- 系统带宽 / System Bandwidths : 50MHz和200MHz
- 放大器工作电压范围 / Amplifier Operating Voltages : ±5V
- AC负载能力 / AC Load Capability : 50? (AC-Coupled)
- 可靠性 / Reliability : 高
- 过载恢复时间 / Overload Recovery Time : 快
- 兼容性 / Compatibility : 与C30950系列针对针兼容
- 光入射角 / Light Entry Angle : 超过130°
- 模型1550E损伤阈值 / Model 1550E Damage Threshold : 增强
应用
1.LIDAR,2.测距,3.激光指示,4.共聚焦显微镜,5.高速极低光检测,6.分布式温度感测(DTS),7.分析仪器,8.高速自由空间光通信
特征
1.超低噪声等效功率(NEP),2.高可靠性,3.快速过载恢复,4.与C30950系列针对针兼容,5.入射光角度大于130°,6.模型1550E展现增强的损伤阈值,7.RoHS兼容
详述
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