在电子制造与研发领域，如何精准分析材料的分子结构并检测微小缺陷一直是行业痛点。拉曼光谱仪的作用正是解决这一难题的核心技术——它通过激光与物质分子振动能级的相互作用，提供非接触、无损的化学成分"指纹图谱"。从半导体晶圆的质量控制到新型光纤元件的材质验证，该技术已成为现代电子工业不可或缺的分析工具。本文将深入解析拉曼光谱仪在电子电工行业的具体应用场景，并分享提升
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HASO SWIR FAST
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高速测量 光学元件 短波红外 波前传感器 自适应光学
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概述
HASO SWIR FAST是一款高性能的Shack-Hartmann波前传感器，专为短波红外（SWIR）应用而设计，具有高速度和高精度的特性，适用于自由空间光学和卫星通信等领域。
参数
- 孔径尺寸 / Aperture Dimension : 1.75 x 1.75 mm2
- 微透镜数量 / Number Of Microlenses : 11 x 11
- 最大采集频率 / Maximum Acquisition Frequency : 4.5 kHz
- 校准波长范围 / Calibrated Wavelength Range : 0.9 - 1.7 μm
- 最小功率 / Minimum Power : 0.1 nW
- 外部触发频率 / External Trigger : TTL signal
- 操作系统 / Operating System : Windows 10 & 11
- 绝对波前测量精度 / Absolute Wavefront Measurement Accuracy : 15 nm RMS
- 空间采样 / Spatial Sampling : 150 μm
- 倾斜动态范围 / Tilt Dynamics Range : > ± 3°
- 焦距动态范围 / Focus Dynamics Range : ± 0.008 m to ± ∞
应用
1. 自由空间光学 2. 卫星通信 3. 高速测量 4. 自适应光学系统
特征
1. 直接获取收敛和发散F/5光束的波前，精度达到λ/100 RMS 2. 使用外部触发功能，完美掌握测量时间 3. 延迟优化至1 ms以内，包含波前测量 4. 仅需0.2 nW的功率即可以30 nm RMS的精度在4 kHz下获取波前 5. 专利技术实现相位和强度的独立测量：在强闪烁情况下无偏差
详述
1. 直接获取收敛和发散F/5光束的波前，精度达到λ/100 RMS 2. 使用外部触发功能，完美掌握测量时间 3. 延迟优化至1 ms以内，包含波前测量 4. 仅需0.2 nW的功率即可以30 nm RMS的精度在4 kHz下获取波前 5. 专利技术实现相位和强度的独立测量：在强闪烁情况下无偏差
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