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干涉仪

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  • 自由光谱范围

    Free Spectral Range(FSR)(GHz)

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  • PhaseCam Twyman-Green激光干涉仪 干涉仪

    PhaseCam Twyman-Green激光干涉仪

    美国
    分类:干涉仪
    厂家:4D Technology
    干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um 输出极化: Circular 有效值重复性: <0.001 waves 有效值精度: <0.002 waves

    与传统的Fizeau仪器相比,Twyman-Green配置干涉仪具有几个重要的优势:振动不敏感测量可在具有挑战性的环境中使用,如Cryo-Vac测试或长测量路径。设计可以非常紧凑,可在狭小空间或难以接近的位置使用。轴上设计可提供出色的精度,尤其是在测量球形元件时。测试和参考之间的功率比以无损方式调整。PhaseCam动态Twyman-Green激光干涉仪可提供高分辨率测量,即使振动和空气湍流Dynamic Interferometry?使PhaseCams能够在30微秒内捕获完整的波前测量结果,比传统的相移干涉仪快5000倍。PhaseCams结构紧凑,重量轻,使重新配置测试设置变得简单和容易,无需振动隔离。PhaseCam激光干涉仪非常适合大直径光学元件的计量、生产车间质量控制、通常受气流湍流阻碍的洁净室应用、远程操作必不可少的环境室以及移动部件(如可变形反射镜、旋转磁盘或振动膜)的模态分析。

  • C01型PicoScale传感器头 干涉仪

    C01型PicoScale传感器头

    德国
    分类:干涉仪
    厂家:SmarAct
    干涉仪配置: Not Specified 光源: 1550nm 输出极化: Linear 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    C01是皮级干涉仪的标准传感头类型。由于其准直输出光束、紧凑的外形和各种定制选项,它适用于较常见的应用。每个传感器头(见图1)基于两个主要组件:准直光纤输出光束的透镜系统和将光束分为参考光束和探测光束的分束器。参考光束被内部参考镜反射,该内部参考镜被涂覆到分束器立方体的一侧。探测光束从头部射出并被目标表面反射,以跟踪其相对位移。分束器的前表面标记每个皮级测量的绝对零位置,因为在这里探针和参考光束具有相等的长度。

  • OWI 150 XLC 干涉仪

    OWI 150 XLC

    美国
    分类:干涉仪
    应用: 干涉仪,用于测量 圆柱和平面光学元件

    优化用于生产 测量装置由天然硬石制成,门式结构,被动气浮,水平调节 干涉仪??榉聪虬沧霸赬轴上 X/Y/Z/B轴可通过电机调节??赏ü僮莞艘贫?。测量位置可保存 适用于CX和CV圆柱和平面光学元件 通过使用计算机生成的全息图(CGH)将准直波面分割为一维,以创建圆柱波面。 包括集成 PC 工作站 OptoTech软件与Zygo MX相结合 全自动测量单个圆柱段

  • OWI 100 ECO 干涉仪

    OWI 100 ECO

    美国
    分类:干涉仪
    应用: 非接触式测量球体

    刚性花岗岩塔架,通过四个减震器被动隔振 - 用于无级调节测量工作台的操纵杆,线性滑轨采用无游隙轴承 - 工作台由伺服电机和滚珠丝杠主轴驱动 工作台由伺服电机和滚珠丝杠主轴驱动,速度可通过操纵杆调节(无级调节) - 手动微调,使用细牙螺杆,带 高精度滚柱导轨 - 3轴工作台(基本型机床只有Z轴;可选配不同的X-Y轴型号 不同的X-Y轴选项) - 各种干涉仪??椋?MarOpto 4", Zygo VeriFire - 用于参考球的4 "卡口接口,与Zygo、Zeiss F-Aplanar等兼容。Zygo、Zeiss F-Aplanar等。

  • Verifire高清干涉仪系统 干涉仪

    Verifire高清干涉仪系统

    美国
    分类:干涉仪
    厂家:Zemetrics
    干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: Not Specified 输出极化: Circular, Elliptical, Random 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    Zygo的VeriFire?HD干涉仪系统提供平面或球面的快速高分辨率测量,以及光学元件和组件的透射波前测量。干涉腔长度被精确调制,同时高速相机捕捉多个条纹图像,这些图像由软件进行分析,以创建被测零件的高度详细的测量结果。

  • OWI 150 XT球体和非球体入侵干涉仪 干涉仪

    OWI 150 XT球体和非球体入侵干涉仪

    美国
    分类:干涉仪
    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    高精度Fizeau Workshop干涉仪OWI 150 XT INVERS,用于测试球面和非球面表面。高精度运动学和高达?150 mm的工作范围使这台测量机成为生产高端光学产品不可或缺的工具。

  • μPhase? 1000柔性干涉仪传感器 干涉仪

    μPhase? 1000柔性干涉仪传感器

    德国
    分类:干涉仪
    厂家:TRIOPTICS GmbH
    干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Random 有效值重复性: <0.01 waves 有效值精度: <0.01 waves

    这些高度集成的相移Twyman-Green干涉仪传感器可满足现代质量管理的较苛刻要求。结合μShape?测量和分析软件,这些高性能精密测量仪器可提供有关样品表面偏差或波前像差的信息。

  • NSLI-543-2 N-Slit激光干涉仪 干涉仪

    NSLI-543-2 N-Slit激光干涉仪

    美国
    分类:干涉仪
    干涉仪配置: Not Specified 光源: 543nm 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    通常,基于多棱镜扩束和数字检测,狭缝干涉仪允许透射光学表面的快速干涉测量表征。与传统的逐点非相干显微密度计和逐点非相干显微镜相比,这是一个显著的进步。

  • AccuFiz紧凑型菲佐尔激光干涉仪 干涉仪

    AccuFiz紧凑型菲佐尔激光干涉仪

    美国
    分类:干涉仪
    厂家:4D Technology
    干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: 632 nm or 633nm, 355nm, 532nm, 1053nm, 1064nm, 1550nm, 10.6um 输出极化: Circular 有效值重复性: <0.00005 waves 有效值精度: <0.0005 waves

    Accufiz Fizeau干涉仪提供无与伦比的性能、质量和价值组合,用于精确、可重复测量表面形状和透射波前质量。Accufiz激光干涉仪非常容易在有限的实验室空间中使用。紧凑、轻便的设计具有极高的刚性,可在任何方向或环境中实现较大的稳定性。波长范围为355 nm至1.064μm,孔径范围为33至800 mm,采用水平和垂直安装配置,为各种应用和预算提供了合适的选择??裳〉?00万像素高分辨率相机可捕捉任何商用干涉仪的较高斜率。测量非球面、自由曲面光学元件和高度像差元件??裳〉谋砻娓衾朐矗⊿IS)增加了测量平面平行光学器件的能力,无需涂层或背面处理以消除不必要的反射。在薄至300μm的光学器件上量化形状光学厚度、透射波前误差和均匀性。

  • OWI Desktop 1/2" 干涉仪

    OWI Desktop 1/2"

    美国
    分类:干涉仪
    应用: 球体的非接触式测试和测量

    用于镜片的非接触式测量系统,由于采用非接触式测量技术,不会对镜片表面造成损坏。 非接触式测量技术不会损坏镜片表面 - 坚固的减震设计 - 比测试板更安全、更精确 设计紧凑,可方便地直接安装在抛光机旁 可直接安装在抛光机旁 - 带千分尺螺钉的三轴微调平台 包括我们的高级干涉仪??镺ptoTech 微型EL-F数字干涉仪

  • VT750和VT1200干涉仪工作站 干涉仪

    VT750和VT1200干涉仪工作站

    德国
    分类:干涉仪
    干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Linear 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    Xonox VT1200和VT750代表了方便的仰视塔配置的精密干涉仪工作站。集成的Fizeau干涉仪提供了精确的表面计量,而集成空气轴承的天然花岗岩柱促进了精确的半径测量能力。工作站可以配置在集成触摸屏的节省空间的配置中,也可以配备单独的计算机手推车和双显示器。

  • X-fiz Fizeau干涉仪 干涉仪

    X-fiz Fizeau干涉仪

    德国
    分类:干涉仪
    干涉仪配置: Fizeau Interferometer 光源: 632 nm or 633nm 输出极化: Linear 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    4“、5.2”和6"版本的相移斐索干涉仪

  • MIS 60 干涉仪

    MIS 60

    美国
    分类:干涉仪
    应用: 多功能缝合干涉仪

    刚性花岗岩底座和被动式空气阻尼器 Z轴配置的高精度半径滑轨 安装在B轴上的反向设计的干涉仪模块 高分辨率旋转轴(B 轴),用于将干涉仪单元垂直于基片表面定位 直接驱动旋转轴(C轴),用于旋转光路中的高孔径球面和平面 OptoTech Inspect Mini EL-F 数字式 2" 菲佐干涉仪模块 设计紧凑,集成 PC 工作站 操作: 传统(手动)或使用μStitch MSI软件进行自动轴控制 OptoTech干涉仪软件 μShape OWI用于自动透镜评估

  • IMS5600-DS 干涉仪

    IMS5600-DS

    德国
    分类:干涉仪
    厂家:Micro-Epsilon
    测量类型: Length, Distance 应用: Distance Measurement

    Micro-Epsilon的IMS5600-DS是一款波长为840 nm的干涉仪,工作温度为5至70摄氏度,存储温度为-20至70摄氏度。有关IMS5600-DS的更多详细信息,请联系我们。

  • 10721A 干涉仪

    10721A

    美国
    分类:干涉仪
    测量类型: Angle, Length 目标形状: 2D, 3D 应用: Plane Mirror Measurement
  • SA210-8B 干涉仪

    SA210-8B

    美国
    分类:干涉仪
    厂家:索雷博
    测量类型: Laser Line Shape, Width 探测器类型: Photodiode 应用: Telecommunication, Spectral Analysis

    Thorlabs Inc的SA210-8B是一款干涉仪,自由光谱范围(FSR)为10 GHz,波长为820至1275 nm.有关SA210-8B的更多详细信息,请联系我们。

  • 空气间隔 Etalons 干涉仪

    空气间隔 Etalons

    美国
    分类:干涉仪
    厂家:TecOptics, Inc.
    干涉仪配置: Not Specified 光源: Not Specified 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: <0.01 waves

    空气间隔标准具具有适当等级的熔融石英(UV-可见或IR)基底。衬底上的面外AR涂层和楔形物防止形成无关的干涉图案。与基底光学接触的垫片决定了镜面的平行度和标准具的自由光谱范围。根据应用,间隔物可以是熔融石英或低热膨胀材料,例如ZeroDur或Ule。

  • heliInspect H8 干涉仪

    heliInspect H8

    瑞士
    分类:干涉仪
    厂家:Heliotis AG
    干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: White Light 输出极化: Not Specified 有效值重复性: Not Specified 有效值精度: Not Specified

    新型HeliInspect?H8是Heliotis系列无与伦比的光学在线传感器的较新成员。这款工业级白光干涉仪的核心采用了Heliotis下一代3D像素传感器HeliSens?S4。

  • heliOptics WLI6 干涉仪

    heliOptics WLI6

    瑞士
    分类:干涉仪
    厂家:Heliotis AG
    干涉仪配置: Twyman–Green Interferometer 光源: White Light 输出极化: Not Specified 有效值重复性: <0.01 waves 有效值精度: <0.005 waves

    HelioSpetTM H6的设计可满足较苛刻的3D在线检测任务的规格,如测量台阶高度、角度、形状、粗糙度、波纹、波度、缺陷、划痕、磨损平整度、共面性、变形膜厚度(层析成像模式)。得益于Heliotis在工业应用3D传感器方面的长期经验,H6将干涉测量精度与鲁棒性和高吞吐量相结合。

  • X-fiz 130 ST 干涉仪

    X-fiz 130 ST

    德国
    分类:干涉仪
    测量类型: Shape 目标形状: 2D, 3D 应用: Shape Measurement