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一种用于非酶过氧化氢传感器的新催化剂：掺钛氧化镉薄膜
摘要： 本研究首次报道了一种用于电化学非酶过氧化氢（H2O2）传感器的新材料——掺钛氧化镉（Ti: CdO）半导体，该材料通过简单、通用且经济高效的化学喷雾热解法沉积于掺铟氧化锡（ITO）基底上。基础研究表明：首先，Ti掺杂后CdO薄膜保持了立方晶相及良好的结晶性，仅优先取向的(200)晶面转变为(111)；其次，通过热解过程观察到Ti掺杂使原本不规则球形的CdO纳米颗粒（NPs）形貌转变为尺寸更均匀的颗粒。EDX和XPS研究分别确证了Ti: CdO薄膜中Ti原子的存在。对CdO和Ti: CdO薄膜的吸收与发射特性研究表明其具有窄带隙特性。值得注意的是，与纯CdO相比，Ti: CdO薄膜对H2O2还原表现出显著的电催化活性。因此，Ti: CdO电极的非酶电化学传感显示出0.4 μM的低检测限，线性范围为10-190 μM，在5秒内对H2O2检测呈现快速安培响应，灵敏度达0.27 μA μM?1 cm?2。该成果为采用简单化学喷雾热解法沉积其他金属氧化物和半导体用于非酶H2O2传感器检测开辟了新途径。
关键词： 过氧化氢传感器及其选择性，化学喷雾热解法，钛掺杂氧化镉薄膜
更新于2025-09-23 15:23:52
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(Sn1?xMgxO)薄膜的结构特性及γ射线辐照下光学参数的依赖性
摘要： 采用化学喷雾热解技术在玻璃基板上制备了锡镁氧化物（Sn1?xMgxO）薄膜，并使用Co-60放射源对样品进行γ射线辐照。X射线衍射表明所有制备的薄膜均为四方结构的 polycrystalline 材料，且晶粒优先沿(110)晶面生长。总体而言，随着Mg掺杂浓度从0%增至8%，平均晶粒尺寸、晶格常数、位错密度和晶粒密度均呈下降趋势。原子力显微镜观测显示薄膜表面光滑均匀。通过紫外-可见分光光度法测得光学性能，对比了所有样品辐照前后的透射率和吸收光谱，研究了辐照前后吸收系数、消光系数以及介电常数的实部和虚部。结果显示：未辐照时，禁带宽度随Mg掺杂浓度从0%增至8%从3.94 eV降至3.72 eV；辐照后则从3.92 eV降至3.59 eV。所有光学常数在掺杂比例增加时均呈现上升趋势（无论辐照与否）。能谱分析表明：未掺杂样品仅含Sn和O元素，而掺杂样品包含SnO2和Mg元素。
关键词： 掺杂、二氧化锡薄膜、伽马射线、能量色散X射线技术、化学喷雾热解法、结构特性
更新于2025-09-23 15:21:21