研究目的
本工作旨在采用化学喷雾热解技术制备Sn1?xMgxO薄膜，随后将这些薄膜置于Co-60放射性源发射的1.332 MeV和1.173 MeV能量伽马射线辐照下。通过使用合适的剂量计测定环境辐射水平，并利用X射线衍射、原子力显微镜和能量色散X射线光谱研究了辐照对Sn1?xMgxO薄膜结构特性和光学特性的影响。
研究成果
本文通过X射线衍射对Sn1?xMgxO薄膜的结构分析表明，样品为具有四方结构的 polycrystalline（多晶）。测得的所有镁浓度下，平均晶粒尺寸和晶格常数均随镁浓度增加而减小。此外，结构参数、位错密度和晶粒密度随镁掺杂浓度增加而增大；而织构系数（Tc）值均大于一。经伽马射线辐照后，Sn1?xMgxO薄膜的光学带隙值和透射率降低，而消光系数和介电常数等光学参数则增大。能谱（EDS）分析显示，所有样品中Sn1?xMgxO薄膜的主要成分为Sn（Ka, La）和O（Ka）。
研究不足
该研究仅限于γ射线辐照对化学喷雾热解法制备的Sn1?xMgxO薄膜的影响。研究未涉及其他沉积技术或辐照源。此外，研究聚焦于特定范围的镁掺杂浓度（0%至8%），未探究此范围之外的影响。
