稀土材料（Sm3?）掺杂对光电用电解沉积Cu?O薄膜性能的影响

摘要： 本文报道了钐（Sm）掺杂浓度对电沉积法制备的Cu2O薄膜特性的影响。XRD图谱显示原始及Sm:Cu2O薄膜均具有(111)择优取向的多晶立方结构。SEM照片表明未掺杂Cu2O薄膜为无针孔的致密三角晶粒，且随着钐浓度增加晶粒尺寸减小。拉曼光谱在108、146、217、413和637 cm?1处出现特征峰证实了Cu2O相形成，且峰值强度随掺杂浓度增加而降低。UV-Vis光谱显示Cu2O薄膜吸收值随钐含量增加逐渐上升，带隙值相应减小。光致发光（PL）光谱表明所有薄膜均呈现可见光发射，其强度因掺杂浓度增加而减弱。光电灵敏度观测研究表明，沉积Cu2O薄膜的光电流随掺杂材料浓度增加而增强。