材料科学与工程参考?？?|| 超分辨率荧光显微镜

摘要： 显微镜超分辨率技术多年来一直吸引着研究人员。突破看似根本性的极限始终是个挑战。自2014年诺贝尔化学奖授予受激发射损耗（STED）显微镜和定位显微镜以来，人们持续改进这些技术，例如通过降低样本辐射暴露。超分辨率这一术语指的是突破经典分辨率极限，该极限通常以阿贝分辨率极限或瑞利两点分辨率判据来定义。这两个指标都很可靠，尤其是阿贝极限提供了一个只能通过根本性新方法（几乎像"技巧"）才能突破的硬性限制。瑞利认识到他的判据具有任意性，但认为其足够可靠。该判据最初针对自发光物体的非相干成像定义，后来其适用范围扩展到相干和部分相干系统，再延伸至共聚焦显微镜及其他技术发展。这通常通过所谓的"广义瑞利分辨率判据"实现：当两点间中点图像强度为该点自身强度的0.735倍时，即视为刚好可分辨。研究发现，在此数值附近，两点间距的微小变化会导致图像对比度快速改变。