研究目的
研究超分辨率荧光显微镜的原理与技术以突破经典分辨率极限。
研究成果
超分辨率显微镜技术通过突破经典分辨率极限，极大推动了光学成像领域的发展。这些方法（包括受激发射损耗显微镜和定位显微镜）采用创新手段实现更高分辨率，但同时也存在需要慎重权衡的技术与应用限制。
研究不足
该论文强调了实现超分辨率面临的挑战，例如需要高强度照明（这可能会损坏样本），以及数据分析和图像重建过程的复杂性。
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材料科学与工程参考?？?|| 超分辨率荧光显微镜
DOI：10.1016/B978-0-12-803581-8.10436-9
出版年份：2018
更新时间：2025-09-23 15:21:01
摘要：
显微镜超分辨率技术多年来一直吸引着研究人员。突破看似根本性的极限始终是个挑战。自2014年诺贝尔化学奖授予受激发射损耗（STED）显微镜和定位显微镜以来，人们持续改进这些技术，例如通过降低样本辐射暴露。超分辨率这一术语指的是突破经典分辨率极限，该极限通常以阿贝分辨率极限或瑞利两点分辨率判据来定义。这两个指标都很可靠，尤其是阿贝极限提供了一个只能通过根本性新方法（几乎像"技巧"）才能突破的硬性限制。瑞利认识到他的判据具有任意性，但认为其足够可靠。该判据最初针对自发光物体的非相干成像定义，后来其适用范围扩展到相干和部分相干系统，再延伸至共聚焦显微镜及其他技术发展。这通常通过所谓的"广义瑞利分辨率判据"实现：当两点间中点图像强度为该点自身强度的0.735倍时，即视为刚好可分辨。研究发现，在此数值附近，两点间距的微小变化会导致图像对比度快速改变。
作者：
Alberto Diaspro，Paolo Bianchini，Francesca Cella Zanacchi，Luca Lanzanò，Giuseppe Vicidomini，Colin JR Sheppard
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