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在现代光电系统和电子电工设备中，光学元件名称的准确识别与理解是确保系统设计、维护及优化的基石。无论是构建精密的光纤通信网络，还是调试复杂的激光加工设备，工程师和技术人员若对各类光纤元件、透镜、滤光片等关键部件的命名规则与功能特性模糊不清，极易导致选型错误、性能下降甚至系统故障。随着半导体器件与光电技术的深度融合，掌握规范的光学元件名称不仅关乎技术沟通的效率，
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概述
来自Thorlabs Inc的FGL550S是波长为550至1800nm、中心波长（CWL）为550nm的光学滤波器。有关FGL550S的更多详细信息，请联系我们。
参数
- 过滤器类型 / Filter Type : Color Glass Filter, Longpass Filter
- RoHS / RoHs : Yes
- 过滤器形状 / Filter Shape : Square
- 基底/材料 / Substrate/Material : Schott Colored Glass
- 表面质量 / Surface Quality : 40-20 scratch-dig
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通过氢原子荧光和光解碎片荧光动作光谱探测乙炔S<sub>1</sub>态的预解离能级
荧光 光碎片 光谱学 乙炔 预解离
我们报道了两种获取47 000-47 300 cm?1能区（约解离阈值上方1200 cm?1）预解离S1乙炔能级转动分辨高分辨光谱的新实验方案。通过对比信号信噪比（S/N）和实验简便性，这两种新检测方案与本实验室先前用于研究预解离S1乙炔能级的多种检测方案（在相同激光功率、分子束温度及信号平均次数条件下）进行了评估。第一种方法采用双光子激光诱导荧光（LIF）探测预解离S1乙炔能级产生的氢原子：利用205.14 nm处的双光子共振跃迁将氢原子泵浦至3d能级，随后收集3d-2p荧光（654.5 nm）信号。该氢原子荧光动作光谱的信噪比始终比更常用的氢原子共振增强多光子电离（REMPI）检测高约3倍，且由于荧光检测方案允许使用更高数密度的分子，其激光准直操作也比氢原子REMPI检测简便得多。第二种方法检测S1乙炔电子激发态C2和C2H光碎片产生的荧光。与氢原子检测方案不同，这些光碎片由激发乙炔~A-~X跃迁的同一紫外激光产生，因此相比两种氢原子检测方案，光碎片荧光检测方案的激光准直大幅简化。采用光碎片荧光检测法获得的预解离S1乙炔能级动作光谱，其信噪比比HCCH REMPI检测高约2倍，比氢原子及HCCH LIF检测方案高约10倍。
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应用物理学实验方案
1. 实验设计与方法选择：采用两种新实验策略研究预解离的S1乙炔能级：氢原子荧光动作光谱法（HFAS）和光解碎片荧光动作光谱法（PFAS）。将这些方法与现有技术如氢原子共振增强多光子电离（REMPI）和乙炔激光诱导荧光检测进行对比。 2. 样本选择与数据来源：通过脉冲阀将乙炔分子束膨胀至真空腔室。针对氢原子和碳碎片检测方案，使用不同比例的氩气-乙炔混合气体。 3. 实验设备与材料清单：实验采用由Nd:YAG激光器泵浦的可调谐染料激光器、配备扩散泵的真空腔室、脉冲阀、光电倍增管，以及BBO晶体和滤光片等光学元件。 4. 实验流程与操作步骤：HFAS使用两束相向传播的激光激发S1乙炔跃迁并探测产生的氢原子；PFAS采用单束紫外激光同时实现激发与光解，产生电子激发的C2和C2H碎片，随后收集分析荧光信号。 5. 数据分析方法：通过光电倍增管记录荧光信号，经放大后使用数字示波器和计算机进行后处理分析。
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厂家介绍
Thorlabs致力于以快速有效的服务，为客户供应高品质的光电产品及附属产品。索雷博, 光学平台, 光学元件, 位移台, 光纤跳线, 激光器, 二极管驱动, 宽谱光源, 光电探测, 光束分析, OCT成像, 成像系统, 压电陶瓷, 光电实验室
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