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在现代光电系统和电子电工设备中，光学元件名称的准确识别与理解是确保系统设计、维护及优化的基石。无论是构建精密的光纤通信网络，还是调试复杂的激光加工设备，工程师和技术人员若对各类光纤元件、透镜、滤光片等关键部件的命名规则与功能特性模糊不清，极易导致选型错误、性能下降甚至系统故障。随着半导体器件与光电技术的深度融合，掌握规范的光学元件名称不仅关乎技术沟通的效率，
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严格把控产品质量，呈现理想的光电产品，确保每一件产品都能满足您的专业需求。
概述
参数
- 过滤器类型 / Filter Type : Laser Line Filter
- 半高宽（FWHM） / Bandwidth (FWHM) : 10 nm
- FWHM公差 / FWHM Tolerance : ± 2 nm
- 阻挡波长 / Blocking Wavelength : 200 to 1150 nm
- RoHS / RoHs : Yes
- 过滤器形状 / Filter Shape : Round
- 基底/材料 / Substrate/Material : Schott Borofloat, Soda Lime
- 滤波器直径 / Filter Diameter : 25.4 mm (1 Inch)
- 表面质量 / Surface Quality : 80-50 scratch-dig
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使用单色光测量液体闪烁体溶剂LAB的衰减长度
直链烷基苯 中微子探测器 光吸收
江门中微子实验中心探测器将采用直链烷基苯（LAB）作为液体闪烁体的溶剂。该探测器的巨大规模带来了重大挑战，也要求进一步提高优质LAB的光学透明度。为研究高光学透明度特性，我们持续改进测量装置，采用单色光测量LAB样品的衰减长度。此外，还研究了有机杂质对LAB样品的影响，以理解其相互作用机制并进一步提升LAB的光学透明度。
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采用波长为450纳米的激光束源实现铜激光微焊接的新方法
热传导焊接 扫描系统 激光微焊接 铜 建模 450纳米
激光微焊接适用于1毫米以下的焊接结构，随着对电池和燃料电池等电子元件连接需求的增长而日益广泛应用。近红外波段（IR，λ≈1μm）的光纤激光器已成为该领域的主流选择。这种激光焊接工艺虽能实现微米级精密加工，但同时会降低被加工件的表面质量。此外，由于铜对红外辐射的低吸收率（<5%）导致工艺不稳定，可能产生焊接缺陷。因此必须开发替代性激光光源与工艺方案，以避免这些对焊缝质量的负面影响。 可见光波段（VIS）的激光光源因铜基合金对其能量吸收率的提升而成为可行替代方案。本文研究了厚度150μm至1毫米的Cu-ETP和CuSn6样品的激光微焊接过程，采用波长450nm、标称功率150W的二极管激光器。重点考察了传导焊接模式下焊缝表面粗糙度及整体焊缝几何形态，通过双积分球法测量激光能量吸收率，并与1070nm及515nm激光源进行定量对比。借助高速摄像技术详细观测熔池动态行为，结合仿真优化光学系统与激光光源参数配置。最后评估了新型激光光源在多种技术连接应用中的潜力，并分析了保护气体使用的影响。
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实验方案推荐
AI分析生成
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精密仪器实验方案
1. 实验设计与方法选择：本实验采用比尔-朗伯定律测量LAB样品的衰减长度，并通过改进单色光条件提升精度。使用LED、滤光片和光电倍增管（PMT）的装置采集光强穿过样品的衰减数据。 2. 样品选择与数据来源：制备了LAB样品（NJ42#、NJ46-R#、NJ48#、NJ49#、NJ50#），包括市售产品及改进生产工艺的高质量样品。另制备了掺杂PPO和bis-MSB的LS样品。 3. 实验设备与材料清单：设备包含LED（400nm、430nm、470nm）、信号发生器（AFG3102）、透镜、光阑、带通滤光片（Thorlabs FB430-10、Semrock FF01-427/10-25）、1米不锈钢管、PMT（滨松R7724）、数据采集系统、QADC（CAEN V965）及光纤光谱仪（FX2000-RD）。材料包括LAB样品、测试用高纯水及有机杂质分析样本。 4. 实验流程与操作规范：装置通过LED发射脉冲光，经准直、单色化滤光后穿过管内LAB样品，由PMT测量衰减光强。记录不同液位高度的ADC值，将数据拟合至公式(6)计算衰减长度。环境温度稳定控制在0.2°C以减少波动。 5. 数据分析方法：基于比尔-朗伯定律（公式6）采用指数拟合计算衰减长度，运用统计方法进行误差评估，并对比有无滤光片的测量结果。
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机械电子工程实验方案
1. 实验设计与方法选择：本研究采用波长450纳米的二极管激光器进行铜及铜合金的微焊接，重点研究热传导焊接模式。通过高速成像与积分球分别实现过程观测与吸收率测量。 2. 样品选择与数据来源：选用厚度150微米至1毫米的Cu-ETP和CuSn6试样，选材标准聚焦于电子元件相关材料。 3. 实验设备与材料清单：包含Nuburu AO-150二极管激光器、Newson z-Shifter位移台、振镜扫描系统、Scanlab f-theta透镜、Photron Fastcam SA5高速摄像机及用于吸收测量的积分球。 4. 实验流程与操作规范：包括激光与光学组件调试、搭接焊与对接焊实施、焊接过程吸收率测量及焊缝分析等步骤。 5. 数据分析方法：通过焊接过程中的二极管电压计算吸收率，结合高速视频观察熔池动态，并制备焊缝横截面进行评估。
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厂家介绍
Thorlabs致力于以快速有效的服务，为客户供应高品质的光电产品及附属产品。索雷博, 光学平台, 光学元件, 位移台, 光纤跳线, 激光器, 二极管驱动, 宽谱光源, 光电探测, 光束分析, OCT成像, 成像系统, 压电陶瓷, 光电实验室
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