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在现代光电系统和电子电工设备中，光学元件名称的准确识别与理解是确保系统设计、维护及优化的基石。无论是构建精密的光纤通信网络，还是调试复杂的激光加工设备，工程师和技术人员若对各类光纤元件、透镜、滤光片等关键部件的命名规则与功能特性模糊不清，极易导致选型错误、性能下降甚至系统故障。随着半导体器件与光电技术的深度融合，掌握规范的光学元件名称不仅关乎技术沟通的效率，
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概述
Thorlabs Inc的NE50B是一款中心波长（CWL）为633 nm、滤波器直径为25 mm（1.25英寸）的光学滤波器。有关NE50B的更多详细信息，请联系我们。
参数
- 过滤器类型 / Filter Type : Absorptive Neutral Density Filter, Neutral Density Filter
- RoHS / RoHs : Yes
- 过滤器形状 / Filter Shape : Round
- 基底/材料 / Substrate/Material : NG9
- 表面质量 / Surface Quality : 40-20 scratch-dig
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利用阳光对抗起雾的透明超表面
可再生能源 冷凝 除雾 防雾 超表面
表面雾化是一种常见现象，会对表面透明度和能见度产生重大不利影响。它会影响包括窗户、挡风玻璃、电子显示屏、相机、镜子和眼镜在内的广泛应用性能。大量正在进行的研究旨在通过理解和开发稳定有效的防雾涂层来解决这个问题，这些涂层能够在不消耗电能的情况下"被动"应对广泛的环境挑战。在此，我们介绍了一种替代方法，通过合理设计太阳能吸收超表面来超越现有技术（如超亲水和超疏水涂层）——在保持透明度的同时，在光照下诱导局部加热，从而显著延迟表面雾化的发生或减少除雾时间。在相同环境条件下，我们证明我们的超表面能够将除雾时间缩短至四分之一，并在过饱和条件下抑制冷凝液核的形成，在保持能见度方面优于传统最先进方法。我们的研究表明了一种耐用且环境可持续的透明表面被动防雾和除雾方法。这项工作为大规模制造开辟了机会，可应用于包括聚合物和其他柔性基材在内的多种材料。
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纳米材料与技术实验方案
1. 实验设计与方法选择：本研究通过磁控溅射技术在玻璃基底上沉积金纳米颗粒和二氧化钛层来设计和制备超表面。实验包括清晰度与畸变测量、单液滴蒸发测试、除雾测试以及过饱和条件下的防雾性能评估。采用清晰度（C）和畸变（δ）理论模型，并利用红外热成像技术进行温度测量。 2. 样本选择与数据来源：样本包括未处理玻璃、超亲水玻璃、疏水玻璃、超表面（未处理及疏水变体）以及商用有色贴膜。数据采集自暴露于过饱和水蒸气环境及模拟太阳光源照射的实验。 3. 实验设备与材料清单：设备包括晶圆切割机（ADT ProVectus LA 7100）、氧等离子体系统（牛津仪器Plasmalab 80 Plus）、磁控溅射系统（Von Ardenne CS 320 C）、iCVD系统（GVD公司iLabTM涂层系统）、接触角测量仪（DataPhysics OCA 35）、显微镜（奥林巴斯BX60）、红外相机（FLIR SC7500）及光谱系统。材料包括熔融石英晶圆、金、二氧化钛、三氯乙烯基硅烷（TCVS）、全氟癸基丙烯酸酯（PFDA）及叔丁基过氧化物（TBPO）。 4. 实验流程与操作步骤：流程包含样品制备（切割、清洁、镀膜）、过饱和条件暴露、光源照射，以及清晰度、畸变、蒸发时间和温度的测量。具体步骤包括通过冷却使样品起雾、转移至实验装置，并通过相机和传感器记录数据。 5. 数据分析方法：采用统计方法（如t检验）、基于图像强度的清晰度与畸变计算及温度分布分析。软件工具包括接触角测量仪软件及用于热学与光学数据的定制分析程序。
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厂家介绍
Thorlabs致力于以快速有效的服务，为客户供应高品质的光电产品及附属产品。索雷博, 光学平台, 光学元件, 位移台, 光纤跳线, 激光器, 二极管驱动, 宽谱光源, 光电探测, 光束分析, OCT成像, 成像系统, 压电陶瓷, 光电实验室
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