摩擦和磨损常因固体表面润滑不足发生，存在于多工业机械环境，有多种分析方法，本文将研究用电子显微镜和光谱分析二者。
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MLL-III-845纳米
分类： 厂家： Changchun New Industries Optoelectronics Technology Co Ltd
产地： 中国大陆
型号： MLL-III-845 nm
更新时间： 2023-04-24T08:07:41.000Z
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概述
来自CNI Laser的MLL-III-845 nm是波长为845 nm、功率为0.00 1至0.03 W、输出功率（CW）为0.00 1至0.03 W、工作温度为10至35摄氏度的激光器。
参数
- 技术 / Technology : DPSS Laser
- 功率 / Power : 0.001 to 0.03 W
- 应用 / Application : measurement, communication, spectrum analysis
- 横模 / Transverse Mode : TEM00
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调节混合卤化物钙钛矿的带隙以提升单色光照射下的光伏性能
单色光 混合卤化物钙钛矿 带隙调控 光伏性能
有机-无机卤化物钙钛矿已成为光电器件中极具前景的材料。本文聚焦于钙钛矿材料作为单色光转换器件的新应用领域。首先介绍了室温下带隙从近红外延伸至可见区的有机-无机钙钛矿半导体的光学特性。采用(FAPbI3)x(MAPbBr3)1-x和FA0.85MA0.15Pb(IxBr1-x)3两种混合有机-无机杂化钙钛矿实现带隙调控，获得了带隙随x值近似线性变化的结果。研究了薄膜组分与器件性能的关联规律?；谏鲜龃兜骺亟峁?，在683纳米波长附近带隙的两种器件经单色光照射测试，实现了60 mW cm?2单色光照射下高达40%的转换效率。结果表明该钙钛矿薄膜具有陡峭的光学吸收边，能制成高效的单色光转换器件。
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光电信息材料与器件实验方案
{"实验设计与方法选择": "本研究通过制备混合卤化物钙钛矿(FAPbI3)x(MAPbBr3)1-x和FA0.85MA0.15Pb(IxBr1-x)3实现带隙调控，采用紫外-可见吸收光谱测量光学性能，并运用直接带隙半导体Tauc定律确定带隙值。", "样品选择与数据来源": "钙钛矿薄膜沉积于ITO/玻璃基底，通过调节溴碘比例制备不同组分样品以探索带隙调控范围。", "实验设备及材料清单": "材料含FAI、MABr、PbI2、PbBr2、DMF:DMSO溶剂、TiO2纳米晶胶体溶液、spiro-OMeTAD及金电极；设备包括紫外-可见分光光度计、扫描电镜成像系统和源表J-V测试仪。", "实验流程与操作步骤": "将钙钛矿前驱体溶液旋涂于基底后退火，继而旋涂spiro-OMeTAD溶液，最后热蒸镀金电极。表征手段包含扫描电镜成像、紫外-可见吸收光谱及激光照射下的J-V测试。", "数据分析方法": "通过(αhν)2-hν曲线计算带隙值，利用EQE测量和J-V曲线评估光伏性能。"}
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名称
分类
制造商
参数
描述
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PD480C-AC是一款光电探测器，专为光电应用设计，具有高灵敏度和稳定性。
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工作范围: 2°C至45°C (160W/180W型号)，10°C至45°C (170W/190W型号) 工作温度: 10°C至40°C（无冷凝） 重复性: ±0.1°C（甚至非环境温度）
UC160-190是一款超紧凑型、安静运行且精确可靠的热电技术循环冷却器，提供160W至190W的制冷能力，适用于精确温度控制。
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索雷博
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高性能带通滤光片，中心波长为700nm，带宽为10nm，适用于精确光谱选择和光学系统优化。
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索雷博
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