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PL2210B 激光器??楹拖低? class=

PL2210B

分类: 厂家: EKSPLA

产地: 立陶宛

型号: PL2210B

更新时间: 2024-08-26T17:38:12.000Z

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概述

来自EKSPLA的PL2210B是波长为1064nm、脉冲能量为0.5至2.5mJ的激光器。有关PL2210B的更多详细信息,请联系我们。

参数

  • 技术 / Technology : DPSS Laser, Mode-Locked Laser, Solid State Laser
  • 应用 / Application : Pump-probe spectroscopy, Pumping, Remote Laser Sensing
  • 增益介质类型 / Gain Medium Type : Solid State (Crystal / Glass)
  • 激光增益介质 / Laser Gain Medium : Nd:YAG Laser
  • 横模 / Transverse Mode : TEM00

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    1. 实验设计与方法选择:本研究采用离子注入技术在LiNbO3晶体中合成Cu、Zn及CuZn合金纳米颗粒,旨在利用局域表面等离子体共振效应增强非线性光学特性。理论模型包括用于离子射程模拟的SRIM 2013软件,以及用于光学特性分析的Mie/Maxwell-Garnett理论。 2. 样品选择与数据来源:使用0.5毫米厚的光学级Z切LiNbO3单晶晶片。通过单次或依次注入特定能量和注量的Cu、Zn离子制备样品。 3. 实验设备与材料清单:设备包含金属蒸汽真空弧(MEVVA)注入机(离子注入)、UV-3600双光束分光光度计(吸收光谱)、Tecnai G2 F20 S-Twin显微镜(TEM、HAADF、EDXS和SAED测量),以及配备EKSPLA PL2210A激光器的Z扫描装置(非线性光学特性)。材料为LiNbO3晶体、Cu和Zn离子。 4. 实验流程与操作步骤:Cu离子以100 keV、Zn离子以70 keV能量注入,注量均为5×10^16 cm^-2。样品在氮气环境中100-400°C退火。通过退火前后的光学吸收、TEM和Z扫描测量分析结构与光学变化。 5. 数据分析方法:采用SRIM模拟离子分布,Z扫描曲线理论拟合(论文提供方程式),以及TEM和光谱学的标准技术测定纳米颗粒尺寸、成分及光学特性。

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    1. 实验设计与方法选择:本研究采用各向异性BP3T单晶构建DFB激光器件,通过干涉曝光技术制备衍射光栅。设计原理基于确定有效折射率与发射波长的函数关系。 2. 样品选择与数据来源:BP3T单晶通过气相生长获得,并根据尺寸和厚度筛选用于器件制备。 3. 实验设备与材料清单:使用正性光刻胶(Micro Resist Technology ma-P 1205)、脉冲Nd:YAG激光器(EKSPLA PL2210A)和原子力显微镜(Pacific Nanotechnology Nano-R?)。 4. 实验流程与操作步骤:采用干涉曝光技术在BP3T晶体上制备DFB结构,通过光学激发测量观察激光振荡。 5. 数据分析方法:分析发射光谱以确定有效折射率和激光特性。

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厂家介绍

EKSPLA是激光、激光系统和激光组件的制造商,用于研发和工业应用。自成立以来,该公司一直致力于生产高性能的先进解决方案。新的想法,其工程师和物理学家的广博知识,加上熟练和经验丰富的工作人员,使创建一个独特的公司成为可能。EKSPLA是立陶宛光子学集群和波罗的海光子学集群成员。与学术和行业合作伙伴密切合作,为欧盟和国际项目做出贡献。从皮秒钕玻璃激光器和小系列机械支架开始,Ekspla显著增加了其生产范围,现在为客户提供:用于研发应用的固态激光器、激光系统和配件光参量振荡器/发生器完整的光谱系统激光电源和冷却装置激光电子工业DPSS激光器定制设计的激光系统

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