在现代光电系统和电子电工设备中，光学元件名称的准确识别与理解是确保系统设计、维护及优化的基石。无论是构建精密的光纤通信网络，还是调试复杂的激光加工设备，工程师和技术人员若对各类光纤元件、透镜、滤光片等关键部件的命名规则与功能特性模糊不清，极易导致选型错误、性能下降甚至系统故障。随着半导体器件与光电技术的深度融合，掌握规范的光学元件名称不仅关乎技术沟通的效率，
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STAR405F20。
标签：
激光二极管 激光器 高功率稳定性 光学元件 TTL调制
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概述
来自Roithner Lasertechnik的STAR405F20是一款波长为405 nm、功率为20 MW、输出功率（CW）为20 MW、工作温度为-10至70摄氏度、存储温度为-30至80摄氏度的激光器。有关STAR405F20的更多详细信息，请联系我们。
参数
- 功率 / Power : 20 mW
应用
1. 长距离应用 2. 短距离应用
特征
1. 卓越的光束质量 2. 高功率稳定性 3. 可调焦玻璃透镜 4. 支持TTL调制
详述
1. 卓越的光束质量 2. 高功率稳定性 3. 可调焦玻璃透镜 4. 支持TTL调制
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内部或外部：评估应用外部散射层对OLED效率提升的效果
外部散射层 效率提升 有机发光二极管 外量子效率 光耦合输出
通过增强光耦合输出来提高有机发光二极管（OLED）效率是常见做法，且由于无法避免所有光学损耗，该方法仍具现实意义。特别是外接散射层兼具多重优势：既能显著提升器件性能，又不会影响电学工作特性，同时不会增加制造成本。目前对外接散射层的效率评估通常采用实验室级OLED进行。本研究因此考察了附着含二氧化钛颗粒光散射箔片的红、绿、蓝三色实验室级OLED的不同表征技术。虽然我们观察到散射箔片能提升外量子效率（EQE），但分析表明非有源区对此有显著贡献。这说明将效率结论推广至大面积应用时需谨慎——在大面积器件中，边缘效应的影响会减弱。我们建议在标准EQE表征之外增加亮度分布检测，因为后者仅在横向散射长度远小于OLED有源区宽度时才有效。本研究结果对未来获得更可靠的预测结果、以及提升不同研究组间的数据可比性具有重要意义。
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光电信息科学与工程实验方案
1. 实验设计与方法选择：本研究通过在红、绿、蓝三色实验室规模OLED上附加外部散射层，评估其对光耦合输出效率的影响。 2. 样品选择与数据来源：使用活性区域约2.5毫米×2.5毫米的实验室规模OLED，以及活性区域约2厘米×2厘米的较大尺寸OLED。 3. 实验设备与材料清单：包含二氧化钛颗粒的散射箔片、积分球、光电二极管、测角仪、用于亮度分布分析的相机。 4. 实验流程与操作步骤：将箔片附着于OLED上，通过积分球、光电二极管、测角仪及相机成像等多种技术测量其对外量子效率(EQE)和亮度的影响。 5. 数据分析方法：通过对比不同测量方法观察到的效率提升，并评估活性区域外区域对所测EQE的贡献。
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厂家介绍
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名称
分类
制造商
参数
描述
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索雷博
尺寸: 85mm×80mm×30mm 重量: 0.3kg 输入电压: ±12V
PD480C-AC是一款光电探测器，专为光电应用设计，具有高灵敏度和稳定性。
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UC160-190 冷却器
Solid State Cooling Systems
工作范围: 2°C至45°C (160W/180W型号)，10°C至45°C (170W/190W型号) 工作温度: 10°C至40°C（无冷凝） 重复性: ±0.1°C（甚至非环境温度）
UC160-190是一款超紧凑型、安静运行且精确可靠的热电技术循环冷却器，提供160W至190W的制冷能力，适用于精确温度控制。
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带通滤波器FBH 700 -10
索雷博
有效孔径: ?21.1mm 透射波前误差: ≤λ/58.2nm RMS over clear aperture 表面质量: 40-20 Scratch-Dig
高性能带通滤光片，中心波长为700nm，带宽为10nm，适用于精确光谱选择和光学系统优化。
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12.7 mm后向反射器
索雷博
有效孔径: ≥?8.9mm 直径公差: +0.0/-0.1mm 表面质量: 40-20 Scratch-Dig
Thorlabs的?12.7 mm Retroreflector是一种高精度光学元件，能够将入射光束反射回其原始方向，适用于光学测量和激光系统。
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