在现代光电系统和电子电工设备中,光学元件名称的准确识别与理解是确保系统设计、维护及优化的基石。无论是构建精密的光纤通信网络,还是调试复杂的激光加工设备,工程师和技术人员若对各类光纤元件、透镜、滤光片等关键部件的命名规则与功能特性模糊不清,极易导致选型错误、性能下降甚至系统故障。随着半导体器件与光电技术的深度融合,掌握规范的光学元件名称不仅关乎技术沟通的效率,
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概述
参数
- 反射镜类型 / Mirror Type : Shortpass Mirror, Dichroic Mirror
- 反射镜形状 / Mirror Shape : Round
- 基底/材料 / Substrate/Material : UV Fused Silica
- 反射镜厚度 / Mirror Thickness : 3.2 mm
- 反射镜直径 / Mirror Diameter : 25.4 mm (1 Inch)
- 表面质量 / Surface Quality : 40-20 scratch-dig
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采用非周期性光子筛的超薄广角大面积数字三维全息显示器
3D可视化 光子筛 宽视角 波前调制 全息显示
全息显示器无需特殊眼镜即可为多位用户提供3D视觉体验。通过精确调控光场,全息显示器能呈现具有完整运动视差和连续深度线索的逼真3D场景。然而受波前调制实际限制,现有全息显示器尚无法生成此类场景——当前波前调制器有限的衍射角与像素数量导致生成的3D场景尺寸小且可视角度窄。我们提出一种平板波前调制器,可显示大尺寸动态全息图像并具备宽视角特性。具体而言,该方案将具有大角度衍射能力的超高容量非周期光子筛与商用液晶显示面板相结合来生成全息图像。除宽视角与大屏幕尺寸外,该波前调制器还支持多色投影且体积小巧,这意味着有望在轻薄设备上实现全息显示功能。
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选择性激光熔化的原位光学发射光谱分析
金属增材制造 光学发射光谱 原位监测 粉末床熔融
选择性激光熔化(SLM)作为一种粉末床增材制造工艺,其局部加工条件的差异可能导致缺陷并引发零件失效。SLM工艺特性允许对加工过程中从零件表面发射的辐射信号(包括激发合金元素的光学发射)进行原位监测。通过光学发射光谱(OES)测量发射光的频谱成分,可以深入了解SLM加工过程中汽化激发物种的化学组成及相对强度。本文报道了研究利用原位OES获取SLM加工局部条件信息的贡献:将光谱仪分光至SLM系统激光束路径中,测量304L不锈钢加工时熔池和羽流发射的可见光。该在线配置可不受激光扫描位置影响实现信号采集。通过关联光谱信息与不同构建条件(即工艺参数、构建腔室气氛类型及压力)下SLM试样的熔池尺寸特征,本文讨论了特定构建腔室条件下实施OES的局限性。这些成果是OES应用于SLM零件质量评定与控制领域的初步进展。
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用于金刚石压砧室的原位同步辐射及实验室高/超高压研究的激光加热装置
高压 金刚石压砧 X射线透射显微镜 X射线衍射 同步辐射 激光加热 高温
金刚石压砧(DAC)技术与激光加热相结合是研究高压高温条件下材料的主要方法之一。本研究展示了一种可转移的双面激光加热装置,适用于DAC并具备原位温度测定功能。该装置可在超过200 GPa的压力下对DAC内样品进行精确加热,并能与同步辐射光束线设备联用,适用于X射线衍射和X射线透射显微实验。我们采用高倍率、低工作距离的无限远校正激光聚焦物镜,能将激光光斑缩小至5微米以下,并实现最高320倍的光学放大。所有光学元件均经过优化选择,以最大限度减少色差和空间像差,从而通过570-830纳米波段的多波长光谱法实现精准的原位温度测定。本装置的灵活设计支持激光源与聚焦光学元件的便捷更换,适用于不同类型的研究需求。该装置已在实验室及欧洲同步辐射装置的高压衍射光束线ID15B成功测试。我们展示了该装置的应用实例:包括PdH化合物的高压高温粉末衍射研究,以及22(1) GPa压力下铂的X射线透射显微研究——这是一种DAC中检测熔融状态的新方法。
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光电信息科学与工程实验方案
1. 实验设计与方法选择:该系统采用透射式LCD面板结合非周期性光子筛来调制波前。光子筛由随机取向的微孔构成,这些微孔能产生大角度衍射光,从而增大全息图像的可视角度。LCD像素与微孔的一一对应关系实现了光场的独立调控。 2. 样本选择与数据来源:光子筛通过常规光刻和电子束写入工艺制备。使用不同波长的激光照射生成并采集全息图像(如螺旋体、四面体、旋转立方体等)。 3. 实验设备与材料清单:LCD面板(LCX017AL,索尼)、激光器(绿光532nm/红光639nm/蓝光473nm)、熔融石英基底镀钛薄膜的光子筛、CCD相机(Lt365R,Lumenera)、物镜(UPlan FLN 40×/UPLSAPO 4×,奥林巴斯)、管镜(焦距100mm)、二向色镜(DMLP505/DMLP550,Thorlabs)、用于成像的可移动载物台。 4. 实验流程与操作步骤:将LCD面板与光子筛对齐贴合,激光束照射面板后显示最佳相位图案以在目标位置形成焦点。通过搭载于可移动载物台的4f望远镜成像系统采集图像,观察运动视差与不同视角效果。采用泽尼克多项式进行像差校正。 5. 数据分析方法:基于光程差代数计算聚焦相位值。对比度因子以全息图像强度与背景噪声的比值测定。通过半高宽测量和空间频率图谱分析可视角度及焦点尺寸。
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增材制造工程实验方案
1. 实验设计与方法选择:研究将光谱仪插入SLM系统激光光路中,测量加工过程中熔池和羽流发出的可见光。 2. 样本选择与数据来源:在不同条件下(激光功率、构建腔室气氛类型及压力)处理304L不锈钢粉末单层。 3. 实验设备与材料清单:使用自制的SLM系统,配备IPG光子公司YLR-500连续波光纤激光器和Andor科技公司SR-750光谱仪。 4. 实验流程与操作步骤:激光以恒定扫描速度和搭接间距进行光栅式扫描,采集并处理OES数据以去除炽热背景。 5. 数据分析方法:对处理后的OES信号进行层区域平均以生成代表性发射光谱,通过光学显微镜测量熔池尺寸并与发射线强度相关联。
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精密仪器实验方案
1. 实验设计与方法选择:该装置包含两个相同部分,每部分均配备近红外(NIR)激光器、功率控制??椤⒕劢褂胝喂庋г⒐鄄饽?榧拔露炔杉??。该设计可根据实验需求便捷调整或改装光学组件。 2. 样品选择与数据来源:样品装载于配备Boehler–Almax型金刚石的BX90型金刚石压砧样品腔内。使用石蜡油作为传压介质及PdH合成的氢源。 3. 实验设备与材料清单:该装置采用SPI RedPower R4调制光纤激光器与SPI G4脉冲光纤激光器进行测试。光学组件包括GeoHeat 40_NIR与Mitutoyo 20倍物镜、Thorlabs DMLP900二向色镜,以及EYE? CMOS成像相机。 4. 实验流程与操作规范:系统经组装校准后用于实验室及同步辐射实验。激光功率通过外部控制,温度通过光谱辐射测量法确定。该装置适用于X射线衍射与X射线透射显微实验。 5. 数据分析方法:通过将校正后的发射光谱拟合至普朗克辐射函数确定温度。分析X射线衍射图谱以测定晶胞参数与相变过程。
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有效孔径: ?17.8mm 直径公差: +0/-0.1mm 表面质量: 40-20 Scratch-Dig
PS975M-M01是一款安装在直径为25.4mm的反射器,具有高精度光学性能和耐用的结构设计。
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