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IPSDD1303 超辐射发光二极管
精品

IPSDD1303

分类： 超辐射发光二极管

厂家： InPhenix

产地： 美国

型号： IPSDD1303

更新时间： 2024-08-26T11:23:05.000Z

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标签：

生物医学成像 宽光谱带宽 低光谱波动 临床治疗 色度模式色散测量 插入损耗测试

简介：

Super-Luminescent Light Emitting Diode Device

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概述

Inphenix的IPSDD1303是一种超辐射发光二极管，波长为1280至1360 nm，输出功率为5至7 MW，带宽（FWHM）为50至55 nm，工作电流为300至400 mA，正向电流为500 mA（最大电流）。有关IPSDD1303的更多详细信息，请联系我们。

参数

  • 光纤模式 / Fiber Mode : SMF/PMF/MMF
  • 应用 / Application : Chromatic Mode Dispersion Measurement, Broadband Light Source for Insertion Loss Test, Biomedical Imaging Device, Clinical Healing Equipment

应用

1.色度模式色散测量 2.插入损耗测试的宽带光源 3.生物医学成像设备 4.临床治疗设备

特征

1.宽光谱带宽 2.非常低的光谱波动 3.单模光纤和偏振保持光纤输出

详述

1.宽光谱带宽 2.非常低的光谱波动 3.单模光纤和偏振保持光纤输出

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SCI论文引用分析

该产品已被4篇SCI论文引用

基于平台30万篇光学领域SCI论文分析

  • 基于三芯光纤的用于测量方向性弯曲的纤维内马赫-曾德尔干涉仪
    马赫-曾德尔干涉仪 光纤传感器 弯曲方向 三芯光纤 弯曲灵敏度

    本研究提出了一种基于三芯光纤（TCF）马赫-曾德尔干涉仪（MZI）的高灵敏度定向弯曲传感器。该MZI弯曲传感器通过将一段TCF与两根具有纤芯偏移的单模光纤（SMF）熔接制备而成。由于TCF中纤芯的位置特性，对TCF基MZI施加弯曲会导致纤芯伸长或缩短，使该传感器适用于定向弯曲测量。为分析弯曲特性，研究了两类纤芯熔接位置不同的TCF基传感器（纤芯位于SMF间不同位置）。测量采用扫频光源技术，实验结果表明：在0°弯曲方向上，两类传感器的弯曲灵敏度分别为15.36 nm/m?1和3.11 nm/m?1；在180°弯曲方向上则分别为-20.48 nm/m?1和-5.29 nm/m?1。两类传感器的温度灵敏度分别为0.043 nm/°C和0.041 nm/°C。所提出的传感器具有结构紧凑、用途广泛、制备成本低廉的特点，在生物医学传感领域具有应用潜力。

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  • [IEEE 2018年第二届电信与未来一代网络国际会议（TAFGEN）- 马来西亚（2018.7.24-2018.7.26）] 2018年第二届电信与未来一代网络国际会议（TAFGEN）- 不同类型SOA特性的建模
    建模（线性和非线性类型） 半导体光放大器 多波长光纤激光器

    对常规（C）波段内不同类型半导体光放大器（SOA）的增益、光功率及放大自发辐射（ASE）噪声特性进行了研究。这些SOA包括通过OptiSystem软件定制配置的线性、非线性和在线SOA。进一步采用数值稳态模型在MATLAB中模拟这些SOA以确定和评估其性能。结果表明，与线性和在线SOA相比，线性SOA具有最理想且显著的特性，使其更适合作为多波长光纤激光器（MWFL）应用中的增益介质。

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  • 一种采用偏心芯光纤设计的新型马赫-曾德尔干涉仪用于光学相干断层扫描
    马赫-曾德尔干涉仪 光学相干断层扫描 偏心芯光纤

    提出并演示了一种采用偏心芯光纤（ECF）设计的新型马赫-曾德尔干涉仪用于光学相干断层扫描（OCT）。该实现方案中，使用ECF替代商用单模光纤（SMF）作为其中一个干涉臂。由于偏心芯的偏移位置，该结构对方向性弯曲敏感，且能高精度调节两干涉臂的光程差（OPD）。通过计算和实验测量了ECF的双折射率，结果表明本文提出的ECF与SMF具有相似的偏振灵敏度。该结构可替代参考光延迟线形成全光纤无源器件。实验以反射镜作为样品分析系统的ECF弯曲响应，并采用四片重叠玻璃载玻片作为样品进行实验测量。

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实验方案推荐
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  • 光电信息科学与工程实验方案1

    1. 实验设计与方法选择：该研究设计了一个马赫-曾德尔干涉仪，使用三芯光纤熔接在具有纤芯偏移的单模光纤之间以测量定向弯曲。采用基于相位差和光程变化的理论模型。 2. 样本选择与数据来源：使用具有不同纤芯位置（纤芯1和纤芯2）的TCF熔接至SMF制备了两种传感器。TCF具有特定的中心轴距离和直径。 3. 实验设备与材料清单：设备包括熔接机（藤仓80S）、扫频光源（实验室自制，组件包括半导体光放大器IPSAD1304、扫描法布里-珀罗滤波器FFP-TF2、函数发生器AFG1000）、光功率计（安捷伦8153A）、光谱分析仪（横河AQ6370C）、偏振控制器、光纤耦合器、隔离器、钢板、千分尺螺杆和光纤夹持器。 4. 实验步骤与操作流程：通过将TCF熔接在具有纤芯偏移的SMF之间制备传感器。弯曲实验使用带有可旋转夹具和千分尺螺杆的装置，在0°、90°、180°和270°方向施加0至1 m?1的曲率。使用OSA测量透射光谱。 5. 数据分析方法：通过分析干涉极小值的波长偏移，利用线性拟合和相关系数确定弯曲和温度灵敏度。

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  • 光电信息科学与工程实验方案2

    1. 实验设计与方法选择：本研究采用基于仿真的方法，使用OptiSystem软件配置和建模半导体光放大器（SOA），并利用MATLAB基于微分方程进行数值稳态建模，以分析载流子密度和光子速率。 2. 样本选择与数据来源：模拟了三种类型的SOA：线性SOA1013S、非线性SOA1117S（均来自Thorlabs）以及在线IPSAD1503（来自Inphenix），参数根据其规格说明书设置。 3. 实验设备与材料清单：软件工具包括OptiSystem和MATLAB；虚拟仪器包括双端口WDM分析仪、光功率计和光谱分析仪（OSA）。 4. 实验步骤与操作流程：在OptiSystem中构建配置，将连续波激光器连接到SOA输入端，第二个输入端设置为光零点，并通过可视化工具进行测量；使用MATLAB求解增益和噪声特性的数值模型。 5. 数据分析方法：通过图形绘制和比较增益、输出功率、ASE噪声和噪声系数随输入功率、偏置电流和波长的变化来分析数据。

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  • 光电信息科学与工程实验方案3

    1. 实验设计与方法选择：本研究采用全光纤马赫-曾德尔干涉仪，以偏心芯光纤（ECF）作为其中一臂，通过机械弯曲调节光程差（OPD）。理论模型包含弯曲诱导长度变化方程和双折射计算公式。 2. 样本选择与数据来源：样本包括用于分析弯曲响应的反射镜及四片重叠玻璃载玻片（用于断层扫描），数据源自干涉信号采集。 3. 实验设备与材料清单：包括定制扫频激光器、ECF、单模光纤（SMF）、环形器、耦合器、光电探测器、数字化仪、熔接机、光功率计、光源、微分筒螺旋测微器、光纤夹持器、金属板及夹具。 4. 实验流程与操作步骤：通过微分筒螺旋测微器机械装置弯曲ECF以施加曲率；测量并分析干涉信号。采用熔接技术实现ECF与SMF对准，利用萨格纳克环测量双折射。 5. 数据分析方法：通过干涉光谱分析条纹对比度；采用傅里叶变换进行深度剖析；根据波长偏移量推导双折射值。

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我们还有1 个针对不同应用场景的完整实验方案，包括详细设备清单、连接示意图和数据处理方法。

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厂家介绍

Inphenix是一家总部位于加利福尼亚州利弗莫尔的私人控股公司，设计和制造有源光电元件和?？?。我们通过ISO 9001：2008认证的工厂包括较先进的晶圆厂、具有完整封装能力的生产区和能够测试从芯片级到?？榧恫返牟馐郧Ｎ颐墙舷冉纳杓坪椭圃旒际跞繁７蟃elcordia GR-486-CORE的要求。Inphenix从前端到后端的完整功能是我们为客户提供的关键优势。

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