研究目的
研究硫代化对基于PNDIT2的聚合物太阳能电池性能的影响。
研究成果
对高性能受体聚合物PNDIT2进行硫代处理会导致开路电压(VOC)和短路电流密度(JSC)系统性降低。这种性能退化归因于硫代聚合物较低的载流子迁移率以及形貌与分子堆积方式的差异。硫代处理破坏了π-π堆叠结构,硫代共混物中受体相的结晶有序度下降,进而导致电子迁移率显著降低。
研究不足
由于合成限制,无法制备出完全转化为2S-反式构型的样品。随着硫代化程度的增加,硫代聚合物的光伏参数呈现系统性下降,导致器件效率降低。
1:实验设计与方法选择:
以原始聚合物PNDIT2为参照制备太阳能电池,获得4.85%的优化效率。研究了1S与2S-硫代产物比例递增批次(15:
2:85%的优化效率。研究了1S与2S-硫代产物比例递增批次(
85、7:93和5:95)。
3:
2. 样品选择与数据来源:供体聚合物PTB7-Th购自1-Material公司直接使用;参比受体聚合物PNDIT2购自Raynergy Tek公司直接使用;采用三种PNDIT2硫代类似物样品。
4:样品选择与数据来源:
3. 实验设备与材料清单:太阳能电池以1:1重量比混合供体与受体,使用氯苯作溶剂。以下倒置器件结构获得最佳性能:ITO/PEIE/活性层/MoOx/Ag。
5:实验设备与材料清单:
4. 实验流程与操作规范:所有活性层均以6000转/分钟旋涂,形成PNDIT2器件118纳米及2S-硫代PNDIT2器件约105纳米的活性层厚度。随后在低于9×10??托真空条件下,使用Angstrom Engineering Covap蒸发器沉积12纳米MoOx(0.3埃/秒)和100纳米银(1埃/秒)。
6:实验流程与操作规范:
5. 数据分析方法:采用Keithley 2635源表测量所有器件的电流-电压(J-V)特性,使用Photo Emission Tech公司SS50AAA型太阳光模拟器(模拟AM1.5G辐射光谱,辐照强度100毫瓦/平方厘米)。
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Agilent 33522A
33522A
Agilent
Function generator powering the LED
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Keithley 2635 source meter
2635
Keithley
Measuring current-voltage (J-V) characteristics for all devices
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Perkin Elmer Lambda 1050 Spectrometer
1050
Perkin Elmer
UV-visible-NIR absorption measurement
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Bruker Dimension Icon
Dimension Icon
Bruker
Obtaining AFM images
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JEOL JEM-2100F TEM
JEM-2100F
JEOL
Obtaining TEM images
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Ocean Optics spectrometer
FLAME-S-VIS-NIR-ES
Ocean Optics
Obtaining photoluminescence spectra
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Agilent DSOX3032A
DSOX3032A
Agilent
Digital oscilloscope for recording transient photocurrent measurements
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Photo Emission Tech model SS50AAA solar simulator
SS50AAA
Photo Emission Tech
Simulating an AM1.5 G radiation spectrum with 100 mW/cm2 irradiance
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Oriel Cornerstone 130 monochromator
130
Oriel
Dispersing light from a tungsten filament
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Riken Kekei AC-2 spectrometer
AC-2
Riken Kekei
Photoelectron spectroscopy in air (PESA) measurements
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Gatan UltraScan 1000 (2k×2k) CCD camera
UltraScan 1000
Gatan
Collecting defocussed bright-field images
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Horiba Quanta-phi
Quanta-phi
Horiba
Integrating sphere coupled to the Ocean Optics spectrometer
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Thorlabs
L-7104VGC-H
Kingbright
525 nm LED for excitation
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