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基于红外激光的AlScN薄膜热电特性表征

DOI:10.1016/j.tsf.2019.137623 期刊:Thin Solid Films 出版年份:2019 更新时间:2025-09-11 14:15:04
摘要: 介绍了一种用于表征薄膜和厚膜热电特性的测量系统。该系统基于量子级联红外激光器,可对样品薄膜施加最高120kHz可调制的温度激励。我们选择掺钪氮化铝(AlScN)作为模型材料体系,因其具有优异的压电与介电性能以及CMOS工艺兼容性。通过测量热电响应及其温度特性,根据纵向有效压电模量d33推导出横向有效压电系数e31,并探讨了压电钳制效应对热电测量结果的贡献。本研究对在暴露膜结构上集成AlScN薄膜以实现高密度灵敏红外探测器具有重要价值。
作者: Sebastian Bette,Simon Fichtner,Sebastian Br?ker,Lutz Nielen,Thorsten Schmitz-Kempen,Bernhard Wagner,Carl Van Buggenhout,Stephan Tiedke,Stefan Tappertzhofen
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研究概述 实验方案 设备清单

研究掺钪氮化铝(AlScN)薄膜的热释电性,探索其在红外探测器中的潜在应用。

研究得出结论,AlScN的热释电响应很可能源于夹持效应产生的压电贡献,这对于设计基于AlScN薄膜的红外敏感器件具有重要意义。

该研究承认精确测量热释电系数时两种测量方法的复杂性,以及激光驱动器在更高调制频率方面需要进一步改进。

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