研究目的
研究光伏电池所用减反射涂层（ARC）差异及作为基底的衬底导电类型对电势诱导衰减（PID）的影响。
研究成果
研究表明，在n型和p型晶体硅光伏组件中均存在由电荷积累引起的极化型PID现象，其受抗反射涂层结构影响而非衬底导电类型。
研究不足
该研究聚焦于具有特定减反射涂层结构的晶体硅光伏组件，其研究结果可能无法直接适用于其他类型的光伏组件或减反射涂层配置。
1：实验设计与方法选择：
研究通过对n型和p型晶体硅光伏组件施加高压来观察PID效应。
2：样本选择与数据来源：
使用带有SiNx或SiNx/SiO2叠层减反射层的p型和n型晶体硅光伏电池的组件。
3：实验设备与材料清单：
光伏组件由前盖板玻璃、乙烯-醋酸乙烯酯封装材料、晶体硅电池和背板组成。
4：实验步骤与操作流程：
PID测试通过在85°C下对组件接地铝带与短路互联条之间施加电压进行。
5：数据分析方法：
测量PID测试前后的光暗J-V特性及外量子效率(EQE)。
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获取完整内容-
crystalline Si PV cells
Used as the base for PV modules in the study.
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SiNx ARC
Anti-reflection coating for p-type crystalline Si cells.
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SiNx/SiO2 stacked ARC
Anti-reflection coating for n-type crystalline Si cells.
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ethylene-vinyl acetate encapsulant
fast-cure type
Used as encapsulant in the PV modules.
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triple-layer back sheet
Used as the back sheet in the PV modules.
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