研究目的
研究氮化硼（BN）与碳（C）纳米管异质结构的输运行为及弯曲效应，以应用于柔性器件。
研究成果
研究表明，同轴BN-C纳米管在弯曲变形下展现出优异的结构柔韧性和稳定的输运特性。弯曲过程中的扭结位置由管径与管长的比值决定。预测扭结区域会形成量子点，这表明其在先进光电器件中具有潜在应用价值。
研究不足
该研究聚焦于BN-C纳米管在弯曲状态下的传输特性和力学性能，但未探究其他类型机械变形或环境条件的影响。由于进行了简化处理，计算模型可能无法完全反映所有实验观测结果。
1：实验设计与方法选择：
本研究通过三步高温工艺合成了同轴BN-C纳米管，并采用透射电子显微镜（TEM）和电子能量损失谱（EELS）进行表征。通过原位TEM弯曲实验研究了变形条件下的力学与电学性能。
2：样品选择与数据来源：
选取合成的同轴BN-C杂化纳米管进行原位TEM弯曲实验，收集了弯曲过程中传输特性与结构演变的数据。
3：实验设备与材料清单：
JEOL 3000F TEM、配备Omega滤光片的JEOL 3100FEF TEM、扫描隧道显微镜-TEM样品台（Nano factory Instruments AB）、电化学蚀刻钨探针、导电银胶。
4：实验步骤与操作流程：
将BN-C纳米管固定于金丝上，用钨探针接触纳米管并记录I-V曲线。通过推进钨探针施加弯曲变形，并在各阶段测量弯曲角度。
5：数据分析方法：
分析纳米管电阻与接触长度的关系以确定传输机制，采用分子动力学模拟研究纳米管的原子结构及弯曲行为。
独家科研数据包，助您复现前沿成果，加速创新突破
获取完整内容-
JEOL 3000F TEM
3000F
JEOL
Transmission electron microscopy imaging and electron energy loss spectra (EELS) mapping
-
JEOL 3100FEF TEM
3100FEF
JEOL
In situ TEM bending experiments with Omega filter
-
Scanning tunneling microscopy-TEM holder
Nano factory Instruments AB
Holding and manipulating samples for in situ TEM experiments
-
W probe
Electrochemically etched probe for contacting nanotubes and recording I-V curves
-
登录查看剩余2件设备及参数对照表
查看全部
