研究目的
利用光谱椭偏仪和穆勒矩阵光谱椭偏仪研究垂直腔面发射激光器应用中亚波长光栅结构的表征特性。
研究成果
研究表明,MM-MBD计量技术能通过单次测量准确表征取向不确定的光栅结构,相比需要多次测量或额外方位旋转硬件的SE-MBD方法具有显著优势。该方法为VCSEL制造中纳米结构的快速无接触检测提供了可靠工具。
研究不足
该研究的局限性在于锥形入射建模的计算需求以及MM-MBD测量所需的复杂光学硬件。此外,原子力显微镜探针针尖的曲率可能会影响AFM测量的准确性。
研究目的
利用光谱椭偏仪和穆勒矩阵光谱椭偏仪研究垂直腔面发射激光器应用中亚波长光栅结构的表征特性。
研究成果
研究表明,MM-MBD计量技术能通过单次测量准确表征取向不确定的光栅结构,相比需要多次测量或额外方位旋转硬件的SE-MBD方法具有显著优势。该方法为VCSEL制造中纳米结构的快速无接触检测提供了可靠工具。
研究不足
该研究的局限性在于锥形入射建模的计算需求以及MM-MBD测量所需的复杂光学硬件。此外,原子力显微镜探针针尖的曲率可能会影响AFM测量的准确性。
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