研究目的
开发一种非紫外宽带隙半导体(UWBS)的日盲深紫外(DUV)光电探测器,采用具有虚拟超宽带隙的超薄聚合物纳米纤维,适用于柔性可穿戴光电子应用。
研究成果
超薄P3HT-b-PHA纳米纤维展现出优异的日盲深紫外光敏特性,使其在柔性可穿戴光电器件领域极具应用前景。该研究证明了聚合物材料在高灵敏度深紫外光电探测器中的潜力。
研究不足
该设备在未经特殊处理的常温环境下的稳定性相对较差,且其制造工艺可能需要针对大规模生产进行优化。
1:实验设计与方法选择:
本研究通过聚合工艺合成了超薄P3HT-b-PHA纳米纤维,并将其应用于日盲紫外光电探测器。
2:样品选择与数据来源:
采用多种技术合成并表征了P3HT-b-PHA纳米纤维。
3:实验设备与材料清单:
仪器包括原子力显微镜(AFM)、透射电子显微镜(TEM)、紫外-可见分光光度计以及用于电学测量的Keithley 4200-SCS。
4:实验步骤与操作流程:
合成并表征纳米纤维后,将其用于制备光电探测器和图像传感器。
5:数据分析方法:
从响应度、探测率和外量子效率(EQE)等方面分析了光电探测器的性能。
独家科研数据包,助您复现前沿成果,加速创新突破
获取完整内容-
Atomic Force Microscopy
Nanoscope
Veeco Instrument Inc.
Investigation of morphologies and thickness of polymer thin films
-
Field-emission Transmission Electron Microscope
JEM-2100F
Observation of polymer nanofibrils
-
UV/vis Double Beam Spectrophotometer
UNIC 4802
UV?vis spectroscopy measurements
-
Keithley 4200-SCS
Measurement of FET electrical characteristics and optoelectronic properties
-
Power Meter
PM 100D
Thorlabs GmbH.
Calibration of incident light power intensity
-
登录查看剩余3件设备及参数对照表
查看全部