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高反射环境中基于过采样测量的等效源与方向图重建

DOI：10.1049/iet-map.2019.0171 期刊：IET Microwaves, Antennas & Propagation 出版年份：2019 更新时间：2025-09-11 14:15:04
摘要： 由回波引起的测量误差是实现精确天线方向图测量的主要挑战。特别是在高反射率的测量环境中，回波对测量信号的影响很容易超过被测天线与测量探头之间期望的视距贡献。通过采用大量不同位置和频率的冗余测量样本，并结合适当的后处理技术来减轻回波影响。利用频率分集实现时间门控，通过探头分集构建对非期望回波场敏感度较低的虚拟阵列。本研究改进了常规时间门控技术，并探究了不同探头配置构建虚拟阵列的影响。所采用的时间门控方法通过扩展测量频域信号来抑制吉布斯现象。在准金属暗室中进行测量处理时，增强型时间门控方法使测量带宽边缘的信号分量免受畸变影响。研究发现：当组合多达115个探头构成虚拟阵列时，只要探头与墙壁保持足够距离，测量结果会随着探头数量增加而持续改善。
作者： Josef Knapp，Jonas Kornprobst，Thomas F. Eibert
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研究概述 实验方案 设备清单

研究目的

研究时间门控技术的增强效果以及不同探头配置对构建虚拟阵列的影响，以减轻高反射环境中回波对天线方向图测量的干扰。

研究成果

增强型时间门控方法有效抑制了吉布斯现象，使得能够利用测量带宽边缘处的信号贡献。通过多个探头位置构建虚拟阵列进一步提升了回波抑制效果，当探头与壁面保持足够距离时可获得更优结果。这些技术的组合使测量精度接近无回声环境下的水平。

研究不足

该研究的局限性在于测量带宽（1.5至3.5 GHz）以及高反射环境会引入显著的回波干扰?；夭ㄒ种萍际醯挠行曰谷【鲇谔酵酚肭奖诘木嗬搿?/p>

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