研究目的
研究激光辐照对掺铋As40Se60薄膜结构、微观结构和光学性能的影响。
研究成果
研究得出结论：激光辐照会导致掺铋As40Se60薄膜产生结构和光学特性变化，进而引起光学带隙减?。ü庵掳祷?。这些变化归因于带隙中缺陷态密度的增加。该发现表明其在需要光学参数高度局部变化的器件中具有潜在应用价值。
研究不足
该研究仅限于532纳米激光照射对掺铋As40Se60薄膜的影响。研究结果可能不适用于其他波长或类型的照射。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用熔融淬火技术制备Bi掺杂As40Se60薄膜，随后通过热蒸发法处理。使用波长532 nm的DPSS激光照射薄膜以研究光致变化。
2：样品选择与数据来源：
采用高纯度Bi、Se和As前驱体制备块体合金，并由此制备As40Se55Bi5和As40Se45Bi15薄膜样品。
3：实验设备与材料清单：
X射线衍射仪（布鲁克D8 advance）、场发射扫描电子显微镜（FESEM）（蔡司SUPRA-40）、紫外-可见-近红外光谱仪（IFS66v/S），拉曼测试采用514.5 nm氩激光器（LabRam HR系统）。
4：0）、紫外-可见-近红外光谱仪（IFS66v/S），拉曼测试采用5 nm氩激光器（LabRam HR系统）。 实验流程与操作步骤：
4. 实验流程与操作步骤：通过XRD、FESEM、紫外-可见光谱仪和拉曼光谱对激光照射前后的薄膜进行表征，研究其结构、微观结构和光学性质的变化。
5：数据分析方法：
采用Tauc方程计算光学带隙，通过XRD数据分析结构参数，利用FESEM和EDAX分析表面形貌与成分。
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获取完整内容-
X-ray diffractometer
Bruker D8 advance
Bruker
Used to study the structural change in thin films.
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Field emission scanning electron microscopy
ZEISS, SUPRA-40
ZEISS
Used to check the surface morphology of the films.
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UV–Vis–NIR spectrometer
IFS66v/S
Used to record the transmission spectrum of the films.
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Ar laser
LabRam HR System
Used for Raman measurements.
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