研究目的
研究紫外辐射下金属-铁电体-金属（MFM）结构中锆钛酸铅（PZT）薄膜的铁电光伏响应特性。
研究成果
通过化学溶液沉积技术成功制备出单相且高质量的锆钛酸铅（PZT）薄膜，展现出良好的铁电性能和极少的缺陷。观测到约1.0V的开路电压以及在紫外光照下电流提升三个数量级，这归因于光伏电池的创新设计和PZT薄膜的高质量。
研究不足
该研究仅限于紫外光照射下的光伏响应，未探究其他波长下的响应情况。由于PZT薄膜具有高度绝缘特性，测得其功率转换效率较低。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用化学溶液沉积（CSD）技术在带有叉指电极图案的硅基底上制备PZT薄膜，随后进行快速热退火处理。在紫外光照射下测量光伏响应。
2：样品选择与数据来源：
PZT薄膜制备于以二氧化硅为绝缘层的硅基底上?；拙９婀饪碳际跚逑春驮ご?。
3：实验设备与材料清单：
设备包括X射线衍射仪（理学Ultima 4）、紫外-可见分光光度计（珀金埃尔默Lambda 35）、铁电测量系统（Radiant压电测试仪）及半导体特性分析仪（吉时利4200 SCS）。材料包含醋酸铅(II)、异丙醇锆(IV)和异丙醇钛。
4：4）、紫外-可见分光光度计（珀金埃尔默Lambda 35）、铁电测量系统（Radiant压电测试仪）及半导体特性分析仪（吉时利4200 SCS）。材料包含醋酸铅(II)、异丙醇锆(IV)和异丙醇钛。 实验流程与操作步骤：
4. 实验流程与操作步骤：通过旋涂PZT溶胶沉积薄膜，经热解和快速热退火处理。使用汞弧灯紫外光照射测量光伏响应。
5：数据分析方法：
采用X射线衍射分析结构特性，紫外-可见分光光度计测定光学特性，铁电测试仪通过滞后回线测量铁电性能，半导体特性分析仪表征光伏特性。
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获取完整内容-
UV–Visible spectrophotometer
lamda 35
PerkinElmer
Utilized to investigate the optical property of PZT thin film.
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Ferroelectric measurement system
PE loop tracer
Radiant
Used to study the ferroelectric properties of the CSD grown PZT film.
