研究目的
利用基于实验设计（DoE）的参数化退化模型，在加速条件下估算威布尔函数，从而预测电学材料（特别是OLED）的退化路径。
研究成果
通过实验设计（DoE）利用威布尔函数估算退化趋势的方法在OLED面板上得到验证，整体误差小于3%，效果良好。该方法不仅能预测使用寿命，还可预测整体退化行为，具有应用于其他电子产品的潜力。
研究不足
在预测参数a和b时，状态缺乏重复性限制了多样性，且该模型假设服从威布尔分布而未与其他潜在分布进行比较。
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[2019年IEEE第12届电机、电力电子与驱动诊断国际研讨会(SDEMPED) - 法国图卢兹(2019.8.27-2019.8.30)] 2019年IEEE第12届电机、电力电子与驱动诊断国际研讨会(SDEMPED) - 基于实验设计(DoE)的OLED参数化退化模型
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[2019年IEEE第12届电机、电力电子与驱动诊断国际研讨会(SDEMPED) - 法国图卢兹(2019.8.27-2019.8.30)] 2019年IEEE第12届电机、电力电子与驱动诊断国际研讨会(SDEMPED) - 基于实验设计(DoE)的OLED参数化退化模型
DOI：10.1109/demped.2019.8864855
出版年份：2019
更新时间：2025-09-12 10:27:22
摘要：
本文提出了一种基于实验设计的创新参数化退化模型。该方法通过在加速条件下估算威布尔函数实现，应用于飞利浦理论寿命为1万小时的冷白光有机发光二极管(OLED)。研究测试了热应力与电应力共同作用的加速退化过程，所建立的预测退化模型是时间、温度、电流密度及其交互作用的函数。该模型能在不完全掌握退化物理机制的情况下，展现多应力因素共同作用下的OLED退化行为。通过不同亮度水平的实验数据验证，该预测模型与实际值的平均误差约为3%。与既有寿命模型相比，本方法所得结果更接近真实值。
作者：
Andrea Al Haddad，Antoine Picot，Laurent Canale，Georges Zissis，Pascal Maussion
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