研究目的
开发一种改进的光束控制技术,结合波导探针实现多波长近场光学成像,从而获得具有亚微米横向空间分辨率的双色成像能力。
研究成果
所开发的束流控制技术能够精确调控光斑位置与入射角度,从而实现亚微米分辨率的双色近场成像。这一突破性进展在纳米光子学、等离激元光学及高分辨率光学成像领域具有重要应用前景。
研究不足
该技术的精度取决于光学系统的对准和稳定性,而波导探针的效率受限于表面等离子体在传播过程中的阻尼。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用等离激元波导扫描光学探针进行近场成像,通过精确控制光束位置和入射角实现表面等离激元的共振激发。
2:样本选择与数据来源:
使用通过光刻和离子束溅射技术在硅基底表面制备的含微图案样本。
3:实验设备与材料清单:
实验装置包含单模连续激光器(660纳米和850纳米)、显微镜物镜、倾斜反射镜、光电倍增管,以及由镀金硅尖端制成的波导探针。
4:实验步骤与操作流程:
将激发光束聚焦于波导表面,收集并分析散射光以绘制样品表面近场分布图。
5:数据分析方法:
记录散射光强度随探针位置的变化,利用锁相放大器提取振荡频率及其谐波分量。
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