研究目的
理解极化x切薄膜铌酸锂二次谐波显微镜中的对比机制，这对基础物理研究和器件开发都具有重要意义。
研究成果
该研究表明，二次谐波显微镜能明确区分薄膜铌酸锂中完全反转与部分反转的畴区，为分析铁电畴结构提供了一种无损检测工具。其极化深度的测定分辨率可达数十纳米，这对器件研发至关重要。
研究不足
该研究受限于显微镜的衍射极限分辨率以及界面反射和共振增强对二次谐波信号的影响。该模型假设畴壁具有无延伸的过渡特性，这可能无法解释现实中的所有复杂情况。
1：实验设计与方法选择：
本研究采用二次谐波显微镜对薄膜铌酸锂中的铁电畴结构进行可视化分析。该方法包含考虑界面反射效应的完整三维聚焦计算。
2：样品选择与数据来源：
样品为硅衬底上带有埋氧层的x切铌酸锂薄膜。数据通过二次谐波显微镜获取。
3：实验设备与材料清单：
使用飞秒锁模钛宝石激光器作为泵浦光源。采用不同数值孔径的显微物镜进行聚焦。二次谐波光信号由硅单光子雪崩二极管检测。
4：实验流程与操作步骤：
将泵浦光聚焦于样品表面，收集产生的反向二次谐波光信号。通过样品光栅扫描生成图像。
5：数据分析方法：
基于相位匹配、界面反射及共振增强效应分析二次谐波信号。通过模拟研究这些参数对二次谐波信号的影响。
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Nanopositioning unit
nanocube
PI
Raster scanning the sample with respect to a fixed focal point
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Microscope objective
Epiplan-NEOFLUAR
Zeiss
Focusing the pump light onto the sample
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Ti:Sapphire laser
Griffin
KMLabs
Pump source for generating second-harmonic light
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Microscope objective
Plan Apo
Mitotuyo
Focusing the pump light onto the sample
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Single photon avalanche diode
PDM series
MPD
Detecting the generated second-harmonic light
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