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一步电沉积法制备CZTS薄膜的结构与光学退火路径依赖特性及其自由退火硫化光伏应用

DOI:10.1007/s11664-019-07677-7 期刊:Journal of Electronic Materials 出版年份:2019 更新时间:2025-09-16 10:30:52
摘要: 在电沉积-退火工艺中,初始沉积膜存在硫元素缺失,这使得硫化处理不可避免。本文采用一种电解液,在掺铟氧化锡玻璃基板上直接制备无需后续退火硫化的Cu2ZnSnS4薄膜,用于太阳能电池应用。通过恒电位法实现CZTS薄膜的一步制备,并研究了沉积电位的影响。通过不同温度退火处理制备样品,结合结构与形貌特性分析来理解生长行为并优化薄膜性能。X射线衍射(XRD)图谱显示(112)、(200)和(224)晶面特征峰,对应于黄铜矿结构薄膜及少量杂相。利用扫描电镜和XRD分析研究了薄膜均匀区域及晶粒尺寸随退火温度的变化规律。光学研究表明,禁带宽度Eg随退火温度变化在1.7-1.48 eV范围内增大。
作者: S. AZMI,E.M. KHOUMRI,M.E. MARRAKCHI,L. PEZZATO,M. NOHAIR,M. DABALA
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研究一步电沉积法制备的CZTS薄膜在无退火硫化处理后的结构与光学特性及其光伏应用。

该研究成功采用单步电沉积法(无需硫化工艺)制备出具有黄铜矿结构的CZTS薄膜。最佳沉积电位为-1.10 V。退火温度对薄膜的结构、光学及形貌特性影响显著,其中450°C退火的薄膜呈现1.48 eV的能隙,适用于光伏应用。

该研究强调了由于各元素具有独特的还原电位,导致共电沉积化合物薄膜存在挑战。研究指出,次生相的存在以及退火温度对薄膜性能的影响是需要进一步优化的领域。

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