研究目的
开发高探测率的室温太赫兹(THz)探测器,用于光谱学、成像、无损检测和无创检查等应用。
研究成果
采用钛曲折线热敏电阻的太赫兹天线耦合测辐射热计,其响应度较先前探测器提升了4倍,噪声等效功率降低了2.5倍。研究表明,通过进一步提高探测率和响应速度,有望开发出高性能的室温太赫兹探测器。
研究不足
该研究受限于当前室温太赫兹探测器的性能,与制冷型探测器和外差混频器相比,其探测率较低且响应速度较慢。需要通过加热器电阻的阻抗匹配、热敏电阻温度系数(TCR)的提升以及电阻值的增大来进一步提高探测率(NEP)和响应速度。
1:实验设计与方法选择:
研究涉及在高阻硅(Si)衬底上设计带有钛(Ti)热敏电阻和加热器的太赫兹天线耦合测辐射热计,并采用微机电系统(MEMS)结构。通过电磁(EM)和热模拟分析其性能。
2:样本选择与数据来源:
样本采用电子束(EB)光刻工艺制备,重点制作用于热敏电阻和加热器的钛薄膜及窄线。
3:实验设备与材料清单:
使用高阻硅衬底、测辐射热计与加热器用钛、天线用金(Au)以及二氧化硅(SiO2)绝缘体。设备包括1太赫兹肖特基二极管倍频源和用于测量的光学斩波器。
4:实验流程与操作步骤:
制备过程采用电子束光刻完成所有光刻步骤。电学实验测量电阻率、温度系数(TCR)、热导率、噪声及电响应度。通过太赫兹波测量评估性能。
5:数据分析方法:
基于响应度和等效噪声功率(NEP)评估性能,理论分析由电磁与热模拟结果支持。
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