研究目的
研究导致基于氮化镓的超辐射发光二极管(SLEDs)低能效的内部物理过程。
研究成果
基于氮化镓的表面发射激光二极管(SLEDs)的墙插效率受到p掺杂波导层低电导率的严重限制,且比激光二极管更易遭受载流子复合损耗(尤其是俄歇复合)的影响,这种损耗会因自加热效应而显著增强?;嵋榻致壅攵哉庑┫拗频目赡芙饩龇桨?。
研究不足
该比较未包含任何针对最大WPE(壁塞效率)的SLED设计优化,例如增加腔长。研究仅限于405纳米的紫光发射波长,虽然指出了蓝绿光谱区域更长波长相关的挑战,但并未深入探究。
1:实验设计与方法选择:
采用先进的数值器件模拟技术研究影响SLED效率的内部物理过程。为便于比较,使用与近期405nm InGaN/GaN激光二极管模拟相同的模型和参数。
2:样本选择与数据来源:
本研究聚焦于GaN基SLED,通过数值模拟将其与激光二极管进行对比。
3:实验设备与材料清单:
使用数值模拟软件(Crosslight软件公司的PICS3D)。
4:实验流程与操作步骤:
通过降低前端面反射率将激光二极管模型转化为SLED模型,随后分析室温连续波工作条件下的输出功率、偏置电压及效率表现。
5:数据分析方法:
将电光转换效率(WPE)分解为内量子效率(IQE)、光提取效率(EXE)和电效率(ELE)以比较两类器件。
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