研究目的
研究退火后ZnO微米棒中缺陷相关可见发光增强的起源。
研究成果
退火过程导致氧化锌微棒氮掺杂、表面结构缺陷形成及晶体质量提升。这些变化使缺陷相关的可见光发射显著增强，这归因于Y带态与缺陷态之间高效的非辐射能量转移。该研究为通过退火调控氧化锌微棒的紫外-可见发射比例提供了见解。
研究不足
该研究仅限于分析通过化学浴沉积法生长并在900°C退火的ZnO微棒。所提出的机制基于光致发光和拉曼光谱中观察到的变化，可能无法解释ZnO中所有可能的缺陷相互作用。
1：实验设计与方法选择：
采用低温化学浴沉积法（CBD）合成ZnO微棒，并在氮气氛围下于900°C进行退火处理。通过结构和光学表征研究退火诱导的变化。
2：样品选择与数据来源：
以未掺杂p型(100)硅片为基底沉积微棒，样品包括原位生长和退火处理的ZnO微棒。
3：实验设备与材料清单：
扫描电子显微镜（SEM，日立S-3400N，30kV）、配备铜Kα射线的飞利浦X射线粉末衍射仪、用于光致发光研究的氦镉激光器（325nm）、CCD相机探测器，以及波长514nm的显微拉曼光谱系统。
4：实验流程与操作步骤：
通过化学浴沉积法生长ZnO微棒，采用快速热退火系统进行退火处理，利用SEM、XRD、光致发光和拉曼光谱进行结构与光学表征。
5：数据分析方法：
采用谢乐公式分析XRD数据确定晶粒尺寸，解析光致发光光谱研究发射机制，通过拉曼光谱识别缺陷与结构变化。
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获取完整内容-
scanning electron microscope
S-3400N
HITACHI
Examining the ZnO micropods and their surface morphology.
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X-ray diffractometer
Philips
Phase identification of the micropods.
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He-Cd laser
Excitation source for photoluminescence studies.
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CCD camera
Detector for photoluminescence studies.
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micro-Raman setup
Conducting micro-Raman measurements at room temperature.
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