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激光烧蚀法生长的硅薄膜的光致发光与拉曼光谱研究

DOI:10.1016/j.optmat.2020.109813 期刊:Optical Materials 出版年份:2020 更新时间:2025-09-23 15:19:57
摘要: 采用激光烧蚀技术在熔融石英基底上制备了硅薄膜。热退火对硅薄膜的影响以及压力和温度依赖性显示出硅(Si)薄膜光致发光(PL)光谱的异常行为。热退火后在室温下观察到约3.0电子伏特(400纳米)处的强PL能带。样品拉曼光谱显示峰值位移到517 cm?1的不对称峰;同时观察到声子线展宽(7 cm?1)。这些结果与拉曼活性光学声子的q矢量选择定则弛豫高度吻合。通过声子限制模型拟合红移的不对称拉曼线型,以估算构成薄膜的颗粒尺寸。
作者: J.R. Aguilar-Hern?andez,J. Sastr?e-Hern?andez,G. Monroy-Rodríguez,M.A. Hern?andez-P?erez
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研究概述 实验方案 设备清单

研究激光烧蚀法生长的硅薄膜的光致发光和拉曼光谱,重点关注热退火、压力和温度对其光学性质的影响。

热退火后在室温下检测到硅薄膜具有可见辐射发射,其特性与温度和压力相关。拉曼光谱证实形成了平均尺寸约3纳米的硅纳米晶体。光致发光光谱表明,根据条件不同,其机制与表面缺陷及电子-空穴对复合有关。

该研究的局限性在于所采用的激光烧蚀和热退火条件具有特定性,可能并不具有普适性。光致发光(PL)和拉曼光谱的解读较为复杂,且可能无法涵盖影响结果的所有变量。

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