研究目的
探索石墨烯/hBN/MoS2三层异质结构中的光门控机制,并理解本征缺陷对光电响应的影响。
研究成果
研究表明,缺陷态会显著影响基于二硫化钼的混合光电探测器光响应特性。在可见光波段,观测到分别源自层内空穴捕获与层间电子转移的正负光电流动力学共存现象;在近红外波段,则观察到超高次带隙光电导效应,这归因于二硫化钼导带底附近由缺陷/无序态产生的次带隙能级。该发现表明,范德瓦尔斯异质结中的界面工程可为电荷重组过程提供关键认知。
研究不足
该研究受限于制备和表征范德华异质结构时的技术约束,难以对每层的厚度和质量进行精确控制。研究结果的适用性也受到限制,因为要实现所报道的高响应度需要在低温(180 K)条件下进行。
1:实验设计与方法选择:
本研究采用干法转移技术制备的石墨烯/hBN/MoS2三层异质结构来探究光门控机制。hBN层作为界面势垒用于调节电荷转移时间尺度。
2:样本选择与数据来源:
通过拉曼光谱和光学色差确认的单层石墨烯与MoS2,以及厚度约10-25 nm的多层hBN经分别剥离后用于构建异质结构。
3:实验设备与材料清单:
异质结构制备于SiO2/(p++)-Si衬底上。采用电子束光刻制作电接触后,通过热蒸发在MoS2和石墨烯上沉积Cr/Au(5/50 nm)电极引线。
4:实验流程与操作步骤:
在极低入射功率密度(P≈1-103 fWμm?2)条件下,对可见光至近红外(NIR)波段的不同波长进行时间分辨光电流(IP)测量。测量在T=180 K的光学低温恒温器中、高真空环境(<10?? mbar)下进行。
5:数据分析方法:
运用包含不同过程速率方程的模型分析石墨烯中载流子密度动态变化,以理解光电响应机制。
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